【產品名稱】Panametrics(泛美) 38DL PLUS OLYMPUS超音波測厚機
【產品型號】Panametrics(泛美) 38DL PLUS
【超音波測厚機技術參數】
顯示:彩色透反VGA顯示液晶顯示,顯示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米
檢波全波:RF波、正半波、負半波
輸入/輸出:USB1.0從接口。RS-232有。
存儲卡最大容量:2 GB外置MicroSD存儲卡。視頻輸出VGA輸出標準。
內置數據記錄器:數據記錄器38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和機器配置信息。容量475000個厚度測量讀數,或20000個帶厚度值的波形文件名稱、ID編碼及註釋32位字符的文件名,20位字符的字母數字位碼,每個位有四個註釋。文件結構9個標準的或自定義的用於特定應用的文件結構。
報告機載:報告總結瞭數據統計、帶有位置信息的最小值/最大值、最小值回顧、文件比較及報警報告。
軟件選項
38DLP-OXIDE (U8147014):使用編碼激活的內部氧化層測量軟件。
38DLP-HR (U8147015):使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM (U8147016):使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP (U8147017):使用編碼激活的高穿透(低頻)測量軟件。
選購附件
38DLP/EW (U8778348):3年保修。
1/2XA/E110 (U8767104):用於E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 (U8840167):RS-232線纜
38-C-USB-IP67 (U8800998):USB線纜,用於符合IP67標準的密封操作。
38DLP/RFS (U8780288):腳踏開關,廠內安裝。
HPV/C (U8780124):數字式卡尺線纜,用於在測量聲速時進行厚度輸入。
38DLP-V-CC (U8840172): 數字式卡尺線纜。
38DLP/BCW/NC (U8780289):棒材編碼讀取器。
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035):VGA輸出線纜。
MICROSD-ADP-2GB (U8779307):2 GB外置MicroSD存儲卡。技術規格
測量
雙晶探頭測量模式從激勵脈沖後的精確延時到第一個回波之間的時間間隔。穿透塗層測量模式利用單個底麵回波(使用D7906-SM和D7908探頭),測量金屬的實際厚度和塗層厚度。穿透漆層回波到回波測量模式在兩個連續底麵回波之間的時間間隔,不計漆層或塗層的厚度。單晶探頭測量模式模式1:激勵脈沖與第一個底麵回波之間的時間間隔。 模式2:延遲線回波與第一個底麵回波之間的時間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。 模式3:在激勵脈沖之後,位於第一個表麵回波後的相鄰底麵回波之間的時間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。 氧化層模式:可選。 多層模式:可選。
厚度范圍:0.080毫米~635.00毫米,視材料、探頭表麵條件、溫度和所選配置而定。
材料聲速范圍:0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
分辨率(可選擇)低分辨率:0.1毫米
標準分辨率:0.01毫米
高分辨率(可選項):0.001毫米
探頭頻率范圍標準:2.0 MHz~30 MHz(-3 dB)
高穿透(可選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
一般規格:工作溫度范圍-10°C~50°C鍵區密封、以色彩區分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋。機殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼;機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
外型尺寸(寬 x 高 x 厚)總體尺寸:125x211x46毫米
重量:0.814公斤
電源AC/DC適配器:24V鋰離子電池,23.760 Wh;或4節AA輔助電池。
鋰離子電池供電時間工作時間:最少12.6小時,一般14小時,最多14.7小時。快速充電:2小時到3小時。標準設計符合EN15317標準。
【數字超音波測厚機產品特點】
PLUS測厚機是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型機器。這款手持式測厚機可完美地適用於幾乎所有超聲測厚應用,而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL ,PLUS測厚機可用於各種應用,包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量,以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。
38DL
PLUS的標準配置帶有很多既強大又易於使用的測量功能,以及一些專用於某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求,可以抵禦極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚機顯示屏無論在明亮的陽光下還是在完全的黑暗中都能具有極佳的可視性。測厚機的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
主要特性
可與雙晶和單晶探頭兼容。寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據材料和所選探頭而定。使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。穿透塗層和回波到回波測量功能,用於測量表麵帶有漆層和塗層的材料。內部氧化層/沉積物軟件選項。對於所有探頭,標準分辨率為0.01毫米.使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。高穿透軟件選項用於測量纖維玻璃,橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。厚度、聲速和渡越時間測量。差分模式和縮減率模式。時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數。帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。用於自定義V聲程補償的V聲程創建功能。設計符合EN15317標準。
這款測厚機與其他測厚機有何不同?
38DL PLUS測厚機的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求,而且可在野外和生產現場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現場多麼潮濕、有多大的塵沙、多麼寒冷或多麼炎熱、多麼明亮或多麼黑暗,38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結實的測厚機器,那麼,符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的機器。
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