X-Strata980(X熒光鍍層測厚 及 元素分析機)
產品簡介：
X-Strata980結合瞭大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試麵積
的檢測需求。這款機器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，
能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，
幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系
數法、基本參數法或兩者結合。這款機器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別
出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙
門使樣品更易放入。
應用:
--RoHS/WEEE
--有害元素痕量分析
--焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
--電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量
--五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
--貴金屬合金分析和牌號鑒定
產品特點:
--100瓦X射線管
--25mm2PIN 探測器
--多準直器配置
--掃描分析及元素分佈成像功能
--靈活運用多種分析模型
--清晰顯示樣品合格/不合格
--超大樣品艙
--同時分析元素含量和鍍層厚度
技術參數:
--元素范圍:S(16) to U(92)
--可測鍍層層數:5 層 (4 層+ 底材),可同時分析25種元素成份
--X射線管功率:100W (50kV and 2mA)微焦點鎢靶X射線管
--探測器:25mm2 PIN 電制冷固態探測器
--濾波器/準直器:4種初級濾波器 /最多安裝4種準直器規格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?)
--數字脈沖處理器:4096通道數字多道分析器,包含自動波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
--電腦/顯示器/系統軟件
Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
15”LCD, 1024 x 768
MicrosoftTM XP SP2
--攝像系統:1/2” CMOS-640480 VGA resolution
--電源:85~130V or 215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz
--工作環境: 10－40℃、相對濕度小於98%，無冷凝水
--XYZ軸行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)
--最大樣品尺寸
305 x 390 mm (12 x 15.4”)，樣品高度為 50mm (2”)
305 x 352 mm (12 x 13.9”)，樣品高度為 203mm (8”)
--艙室尺寸: (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)
--外型尺寸
高765mm (30.1”)
寬 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended
深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended
--重量: 135 kg
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