測量LCR元器件特性不可或缺的基本設備。該產品的量程為10的13次方，具有廣泛的測量范圍，基本精度達到0.05％，並具有5種測試頻率，不失為電子產業標準緊密測量機器。
測量模式 AUTO、R+Q、L+Q、C+D、C+R
等效電路 串聯、並聯
顯示參數 測量值、偏差、％偏差、BIN號碼；偏差與％偏差是同內部存儲值演算的結果
平均測量值 2～10次測量值的平均值
功能描述
測量模式 AUTO、R+Q、L+Q、C+D、C+R
等效電路 串聯、並聯
顯示參數 測量值、偏差、％偏差、BIN號碼；偏差與％偏差是同內部存儲值演算的結果
平均測量值 2～10次測量值的平均值
測量范圍
R＋Q R：0.0001Ω～2000MΩ；Q：0.00001～50
L+Q L：0.0001μH～99999H；Q：0.00001～50
C+D C：0.0001pF～99999μF；D：0.00001～10
C+R C：0.0001pF～99999μF；R：0.00001～99999kΩ
測量頻率 100Hz、120Hz、1KHz、10KHz、100KHz
頻率精度 ±100ppm
驅動電平 0.1V，0.25V，1Vrms
驅動電平精度 ±2％
測量速率 慢、中、快：在大於1KHz測試頻率下為每秒測2、10或20次，在100Hz和120Hz下每秒測0.6、2.4或6次
量程 自動或手動
控制 連續、手動或用RS232，GPIB接口外部控制
偏置電壓 內：2.0VDC±2％；外：0到＋40VDC（0.25A保險絲）
精度必要條件 在23℃±5℃條件下，至少預熱30分鐘
基本精度 0.05％（有關精度的詳細內容，請參照精度部分）
GPIB/處理器接口 GPIB與處理器接口功能。處理器接口，可按8個Pass bin和2個Fail Bin排序。
Kelvin夾 當部件難於同其它夾具連接時可使用本夾具
SMD夾鉗 用於連接貼片部件。
徑向夾具 連接於LCR表的正麵，可方便地測量徑向或軸向型部件。
持有證書 CE
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