商品代碼:3830908

  • 4200-SCS半導體特征分析系統
    商品代碼: 3830908
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    商品詳細說明

    主要特點及優點: 

    直觀的、點擊式Windows 操作環境 
    獨特的遠端前置放大器,將SMU的分辨率擴展至0.1fA 
    內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲 
    獨特的瀏覽器風格的軟件界面,根據器件的類型來安排測試,可以執行多項測試並提供測試序列與循環控制功能 
    支持 Keithley590 型與 Agilent 4284 型C-V 儀、Keithley 開關矩陣與Agilent 81110 脈沖發生器等多種外圍設備 
    硬件由Keithley 交互式測試環境(KITE)來控制 
    用戶測試模塊功能,可用於外接儀表控制與測試平臺集成,是KITE功能的擴充 
    包括驅動軟件,支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自動和手動探針臺 


    容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用於實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析,具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供瞭最先進的系統集成能力,包括完整的嵌入式PC機,Windows NT操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速並簡化瞭獲取數據的過程,這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。4200-SCS 提供瞭很大的靈活性,其硬件選項包括開關矩陣、Keithley 與Agilent C-V 儀以及脈沖發生器等多種選擇。

     

     


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