日本崛場Horiba XGT-1700WR性能介紹 

有害元素X射線熒光分析裝置 

XGT-1700WR

快速高精度分析的秘密：采用XGT技術大大提高瞭X射線的強度

XGT-1700WR采用瞭HORIBA獨特的X射線聚焦組件,可以得到很細的高強度X射線束。和X射線準直器方式相比在分析時間和精度上都有大幅度的進步。另外在檢測器上又采用瞭穩定性非常高的高純矽檢測器(世界唯一)。

通過攝像機可單鍵指定φ3mm進行高精度點分析

備有φ1.2mm光管，同時搭載3mm光管使得靈敏度成功Up。對於至今車業界等的成問題的金屬測定、能發揮出最大限的威力。

無需抽真空可迅速進入分析

從小樣品到大樣品可廣泛應用

通過大型樣品室和φ3mm的X射線組合，可以從小樣品到大樣品的廣泛應用 (樣品室尺寸 460×360×150mm)。另外通過高精度的光學設計，實現瞭X射線和CCD光學系統的同軸。即使樣品表麵有凹凸的樣品也可以準確定位分析。

技術指標

外形尺寸（單位：mm） 

隨使用方法可有多種配置

XGT-1700WR特征 

高靈敏度化的方法：

2次濾膜（2種切換） 

多種1次濾膜（4種切換） 

（6元素用, Cd用, Cr用, Cl/Pb/Hg/Br用） 

照射徑 3mm XGT

①　X線強度提升     ：X線照射徑1.2mm→3mm 

②　激發條件最合適化：1次?2次X線濾膜的標準搭載       

X射線熒光光譜機技術指標 

1．名稱：HORIBA XGT－1000WR X射線熒光光譜機

2．應用范圍：滿足歐共體ROHS和WEEE法規，快速定性定量檢測電子產品使用有害物質Pb，Cd，Cr，Hg，Br，Cl及普通元素的定性、半定量測定。

3．分析原理：能量色散X射線熒光分析法。

4．分析元素：Si-U（選用3mm導管，分析范圍Na-U）。

5．X射線管：激發耙材Rh，X-ray導向聚焦技術，射徑可選用中φ3mm，可直接分析直徑3mm的導線或材料。

6．所有元素一次同時測定，其中Pb，Hg，Cd，Cr，Br，Cl六種元素一次性高精度測定。

7．檢測下限：Cd/Pb/Hg/Br≤2PPm，Cr≤5PPm，Cl≤50PPm一般分析時間100秒（塑膠）~300秒（金屬）。

8．檢測器：高穩定性的高純矽檢測器。

9．冷卻方式：液氮冷卻。

10．可測固、液樣品，固體無需壓片，可直接檢測或處理成粉末狀裝入樣品杯中檢測，液體直接裝入杯中檢測。

11．樣品觀察：CCD自動攝像觀察樣品位置，觀察光線和X射線同軸。

12．軟件：自動定性、定量分析，標準曲線校正，可按照用戶事先編好的條件，按程序自動進行定量分析。機器具有自動厚度修正功能電線、電纜檢測修正軟件。

13．環境溫度：5℃~40℃，濕度：30%~80%。

14．電源：220V±10%，50/60HZ。

日本Horiba（崛場） XGT-1700WR的優勢及部分技術參數

Horiba的XGT-1700WR是采用能量色散X射線熒光分析法來檢測產品中有害元素含量的一種機器。和以往的AAS或ICP技術而言，優勢在於檢測速度快，無需前處理，非破壞性的檢測，是目前對應歐盟即將頒佈的WEEE/RoHS法令最專業的機器之一。以下是XGT-1700WR的技術特點和部分參數：

1.     世界上唯一采用聚焦式X射線光管的公司，極大地增強瞭X射線的強度。這是所有其它公司所沒有的技術，因此，Horiba的XGT-1700WR的檢測結果是同類產品中最準確的。我們的X射線光管設計使用壽命是20000小時。

2.     0.1mm（0.1mm）的檢測直徑。采用聚焦光管所帶來的最小檢測直徑，保證能完全照射在檢測樣品上。0.1mm的直徑是選配，目前是世界上最小的檢測點。幾乎對於所有樣品XGT-1700WR都可以直接檢測。

3.     世界上唯一采用高純矽檢測器的公司。這是Horiba公司的一項專利，其它公司普遍采用的是Si(Li)檢測器，Li是很輕的元素，即使是在室溫下也會因為電子的流失而影響檢測的準確性，而且Horiba采用液氮冷卻（一天最多一升，一般液氮費用每升5－8元），雖然會增加一點點成本，但是檢測結果卻是那些用半導體冷卻所不能比擬的。高純矽檢測器的壽命是與機器相同，一般是十年。

4.     隻用一個濾光片就能同時檢測法規所要求的全部五種元素。其它公司都是針對檢測不同的元素而要更換不同的濾光片，同樣的一個樣品，同樣的一個檢測結果，使用Horiba的XGT-1700WR所需要的檢測時間隻有其它產品的1/5，非常方便快捷。檢測一個塑料樣品的時間是100秒左右，其它同類產品則需要幾分鐘的檢測時間。

5.     裝有CCD攝像機(放大倍數為50)，可通過圖像簡單指定分析區域，同行業中首次采用X射線和光學同軸照射方式，所以看到的點和需要檢測的點完全是同一點，而不像其它公司有所偏差。

6.     軟件具有定性和定量分析的功能。有自動校正和自動調整分析時間的功能，樣品厚度及Cl原子吸收、Pb原子熒光的糾正。

7.     測量元素范圍：Na－U(H鈉,Mg鎂Al鋁Si矽P磷S硫Cl氯Ar氬K鉀Ca鈣Sc鈧Ti鈦V釩Cr鉻Mn錳Fe鐵Co鈷Ni鎳Cu銅Zn鋅Ga鎵Ge鍺As砷Se硒Br溴Kr氪Rb銣Sr鍶Y釔Zr鋯Nb鈮Mo鉬Tc锝Ru釕Rh銠Pd鈀Ag銀Cd鎘In銦Sn錫Sb銻Te碲I碘Xe氙Cs銫Ba鋇La鑭Ce鈰Pr鐠Nd釹Pm钷Sm釤Eu銪Gd釓Tb鋱Dy鏑Ho鈥Er鉺Tm銩Yb鐿Lu镥Hf鉿Ta鉭W鎢Re錸Os鋨Ir銥Pt鉑Au金Hg汞Tl鉈Pb鉛Bi鉍Po釙At砹Rn氡Fr鈁Ra鐳Ac錒Th釷Pa鏷U鈾)，分辨率高，可較好的區分波峰相近的元素。

8.     檢測下限：Cd≤1.8ppm,Pb≤2ppm,Hg≤2ppm,Cr≤5ppm,Br≤2ppm,Cl≤50ppm（3mm直徑，PE料）。

9.     最大的樣品倉。可以放入絕大部分的樣品，對於部分樣品可以整包放入而不需要拆裝或破壞。尺寸：460(W)X360(D)X150(H)mm。

10. 可以檢測所有物質的樣品。包括：塑料、金屬、紙、塗料、油墨、液體、粉末等。其中金屬包括：鉛焊，無鉛焊，銅，黃銅，鋁等。其中對於液體和粉末的檢測需要使用樣品杯，也非常便宜。

11. 簡便的操作。隻需要按一個鍵機器就會自動完成整個檢測過程，無需專業培訓，也無需前處理。

12. 通過excel文檔可以出具中、英文報告。隨機會配備英文軟件，裝機後送中文版軟件（非漢化）

日本Horiba XGT-1700WR與傳統的其它XRF機器的比較

(1)  X射線聚焦導管(X-ray guide tube)與  X射線準直器(Collimator)

傳統的XRF機器采用X射線準直器來控制光斑的大小，結果光斑越小，能量損失越大（光斑直徑減小到原來的1/10，能量將降低為原來的1/100），靈敏度越低。

XGT-1700WR采用專利的X射線聚焦技術（3mm & 1.2mm），X射線的能量損失為零，極大地促進瞭XRF技術在電子行業中的應用

(2)  高純矽檢測器與矽鋰檢測器

由於Li原子在常溫下會產生遷移而損害檢測器的性能，所以采用Si(Li)檢測器的機器，無論何時都必須保證檢測器的液氮供應，即使機器閒置，也必須按時添加液氮

XGT-1700WR采用專利的高純矽檢測器，進行樣品測量時才需要添加液氮，機器閒置時無須添加液氮。

隻有Horiba的機器在閒置時是不需要添加液氮的，其它公司的機器因為沒有采用高純矽檢測器，所以做不到這一點。

(3)  直接測定與 樣品處理

傳統的XRF機器，雖然樣品不需要消解，但仍需要進行粉碎、攪拌和壓片，所以傳統的XRF機器一般會配置石蠟、攪拌機以及壓片機。由於光斑麵積大(5~10mm)，傳統的XRF機器對絕大多數的電子組件都無法直接進行分析，需要進行處理，破壞樣品。另外，傳統的XRF機器樣品室小，分析大樣品時非常不便。其轉盤也不適合電子行業的要求。

XGT-1700WR的X射線聚焦技術與大樣品室的設計，充分滿足瞭各種各樣的電子產品的分析要求，真正實現無前處理、無損測定。

(4)  同時測定與 分別測定

由於Cd、Pb、Hg、Cr、Br、Cl 六種元素的性質差異較大，按照傳統的XRF機器設計無法同時測定，需要設定不同條件進行分別測定，分析時間成倍增加。

XGT-1700WR采用優化的設計，實現六種元素同時測定，大大節約瞭時間。

(5)  使用液氮與 不用液氮

液氮的溫度為 -196℃。

不用液氮的機器，靈敏度的降低，數據不準確。

使用液氮是目前業界公認的最經濟實用的保證機器檢測性能的方法。

(6)  專用型機器與 通用型機器

傳統的XRF機器大都為通用型機器，可應用於不同行業不同樣品，但其操作繁瑣，軟件復雜，分析結果難以達到最佳。

XGT-1700WR是HORIBA公司與日本的電子行業巨頭合作，專門為WEEE/RoHS法規度身定造的，並且采用瞭多項最新的技術成果。

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