電感耦合等離子體發射光譜機的優點
實現多元素同時分析；
檢出限低，可以達到0.1-10ppb，甚至更低；
分析的濃度線性范圍寬，可達5-6個數量級；
化學乾擾少，準確度高；
分析速度快，分析成本低；
與其它分析機器比較
讓更多的人能夠輕松簡單使用ICP-AES
采用瞭SII的尖端技術，發揮出ICP發射光譜機的真正精髓，並且凝聚在非常小的體積中。當然設計出的機器操作起來更為簡便輕松。
超小型：
是目前世界上體積最小的單道掃描型發射光譜機，體積僅為750*680*665mm。
高分辨率：
采用中階梯光柵高色散的性能，配合雙單色器設計使其在焦距僅為30cm的情況下，具有與傳統1m 焦距3600線/mm光柵光譜機同樣的分辨率，其中194nm處的半峰寬僅為0.006nm。
高靈敏度：
高靈敏度雙光電倍增管與充氮裝置的完美結合使機器的波長響應范圍達到175-800nm，采用全反射光路以及超短程設計，機器光學系統無色差，並大大提高瞭光譜能量，即使對PS等超真空紫外光譜也具有良好的檢出限。
中文軟件功能強大：
全中文Windows界麵操作系統，功能強大，完善的分析軟件實現瞭全自動定性、定量分析，自動生成Excel格式的結果報告，使機器操作與數據處理十分方便快捷。
發揮先進技術、超省空間、高分辨率
設計精巧，技術先進
設計極大地節省瞭空間，並且高頻電源的獨特設計方式，讓使用者能夠自由擺放，可以放在主機旁，也可以放在桌子下。另外，主機與高頻電源分開後，長度僅有75cm，是此機器中最省空間的精巧設計。
高分辨率：
一般而言，分光器體積越小分辨率越差。以往小型光譜機的設計中，使用二次或三次的反射光提高分辨率的裝置很多，但是二次可三次反射光中，雖可以進行高分辨率測定，但波長范圍非常窄。而這樣的擔心在該機器並在存在。
雙單色器的設計，能夠抑制短波長到長波長的分光乾擾問題，一樣能達到大型分光器所具有的高分辨率。對於環境樣品以及各種材料的廣泛分析都能充分滿足，成為高性能的臺式電感耦合等離子體發射光譜機。
吸取SII的豐富經驗以及先進技術開
高可靠性，高準確度
波長自動校正(CPM)：
每次樣品進行定量測量時，會自動進行波長校正命令可以自動進入特有的波長校正程序。
機器內部充氣系統：
由於分光器可充氮氣，178-200nm的紫外線波長也能夠測定，能夠對硫、磷等真空紫外線波長區域進行分析。
測光高度可調設計：
各種元素在Plasma內發出強光的位置都不一樣，因此觀測高度采取瞭可調的設計，能夠從最適合各種元素的位置進行測定，以達到最佳靈敏度。
高性能信號處理系統：
通常，通過連續變更ICP-AES的電路增益，測定較大范圍的深度。采用的是高性能的信號處理系統，因此，隻需要簡單的高低增益變換，即可擁有很寬的濃度分析范圍。
更適合分析工作者的操作軟件：
靈活、便利的操作，源自於先進的軟件設計，采用Windows的操作環境。
分析流程：
根據情況需要，可從下麵的任一步驟開始分析。
定性分析：
無需標準樣品，即可判定未知樣品中元素的有無，並且算出其大致濃度。
快速測定出全部元素或指定元素中具有代表性的三條波長，進行數據測定。
得到的數據再參考Data base進行對比後，能夠得到定性及粗略的定量結果。
另外，所測得的資料存盤後，能對許多樣品間的各元素進行互相比較，使分析工作變得更為容易。
SII的設計理念，是從操作者的角度出發，讓電感耦合等離子體發射光譜機的更為簡便。
自動做出條件表功能，可以讓操作者迅速得到正確的分析條件
自動生成定量分析條件表
為瞭得到正確的定量結果，預先做出適當的分析條件表是必要的。這個表格的好壞直接影響到分析結果的準確性，然而，選定最合適的分析波長，又需要具備一定的相關專業知識，通常選定這樣的條件最花費時間與精力。
設計出（自動生成定量分析條件表）的功能，根據標準樣品、空白樣品、未知樣品三個分析結果自動判定出分析波長、背景校正、積分時間及波峰模式等定量分析條件。因此，操作者無需再擔心專業知識與經驗的不足，可以輕而易舉地正確掌握定量分析。
完成的條件表，可以以任意名稱進行存盤。進行類似樣品分析時，可以調出文件，快速開展定量分析。
運用完善的軟件實現復雜的控制能力，達到高分辨率的目標
按照在步驟2自動做好的定量分析條件表，進行多種元素的快速分析。
定量分析（手動測定）：將已存盤的條件表讀取出來，直接使用或稍做修改後，開始手動測定。測定過程中能夠觀察標準曲線與測定結果。
定量分析（自動取樣測定）：如果需要樣品全自動測定，可另外選購自動進樣設備。最多可進行80種元素，170個樣品的定量分析，並且也有Plasma的自動熄火功能。
PEAK檢索模式：
可以正確的捕捉所有的PEAK，能夠靈活應對各種復雜樣品，不論濃度高低、多種元素都能迅速準確完成分析，將掃描型ICP-AES的特長充分發揮出來。
PSM（掃描定峰測量）DPM（直接定峰測量）PDM（掃描結合直接定峰測量）
針對實際樣品，掃描指定波長附近的譜圖，而捕捉出PEAK。這樣的模式常用在信倍比高的情況下，從高濃度到微量分析都能得到好的精度。
檢出PEAK位置是在標準樣品測定時進行，實際測定時並不會做。以DPM模式來說，是SII自豪的高速高精度波長之驅動技術，可以針對信倍比低的樣品進行極微量的定量分析。
PEAK和找尋方式和DPM相同，也會針對指定波長附近的譜圖進行測定。這個模式的優點是，除瞭與DPM一樣可以取得極微量的正確定量結果外，也能按照譜圖的狀況判斷是否受到乾擾。
分析結果處理采用Windows操作系統，隨時進行數據結果處理
測定結果可以儲存在硬盤中，在硬盤中可以將必要的數據進行處理存盤。
任意的項目都能進行迭合比較
可以進行檢出限的顯示與編輯
可以對應標準加入法或是內標法
可以進行單位轉換或是稀釋率換算
在工具欄中設計瞭一個[Excel Switch]功能鍵，隻要按一下就可以傳送到Excel去。另外，也可以用手動的方式將圖譜或是標準曲線剪貼到Excel，使數據處理更為自由容易。
其它功能
譜線圖測量
測光高
DL測定
機器操作
異常歷史記錄
波長數據庫
選擇設置
系統數據
分光系統
波長范圍
分辨率(半峰寬)
入、出狹縫
波長驅動
波長重復性
波長校正
檢測器
175nm-800nm
0.006nm(194nm)
固定
步進電動機
±0.001nm
全自動
兩個光電倍增管（長波、短波各使用一個）
(1)前級凹麵光柵分光系統
焦距
衍射光柵
20cm
全息凹麵衍射光柵
(2)後級中階梯光柵分光系統
焦距
衍射光柵
20cm
全息凹麵衍射光柵
(3)紫外區域若充氮氣可以測量C、S、P
(4)全反射聚光系統
進樣系統
主要部件
氣體流量
載氣
霧室氣
冷卻
保護裝置
石英炬管、霧化器、霧室
等離子氣（12-20L/min）輔助氣（0-2L/min）
0-2.5Mpa/cm2
0-2L/min
水冷
氬氣壓力不足監測
水壓不足監測
工作室門監測
等離子氣體流量監測
高頻電源部系統
頻率
輸出功率
電路
冷卻
耦合
點火
40.68MHz
0.6-1.2KW
它激式電子管高頻電源
空氣冷卻
π型自動耦合
自動點火
數據處理部分
CPU
內存
硬盤
軟驅
光驅
顯示器
打印機
操作系統
1GHz以上
128MB以上
20GB以上
3.5英寸
32倍速以上
15英寸彩色以上
激光打印機
Windows XP
機器規格
主機
高頻電源
750(長)×680(寬)×665(高)mm重量70kg
380(長)×510(寬)×475(高)mm重量80kg
工作環境要求
電源
溫度
濕度
氬氣
氮氣
冷卻水
排風
三相380V±10% 30A
單相220V±10% 10A
15-30℃（30分鐘內要求變化不超過5℃）
小於80%
純度99.99%以上
純度99.99%以上
2L/min以上，壓力1-5kg/cm2
排氣量大於5m3/min

新手教學

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