長期以來，國內的粒子計數器的生產和計量標定都是依據國傢標準局1985年頒佈的“塵埃粒子計數器性能試驗方法(GB/T 6167-85)和國傢標準局1988年頒佈的國傢計量檢定規程(JJG 547-88)，這兩個標準與國際上通用的標準，例如日本工業標準(JIS)和美國標準測試標準(ATSM)有相當大的差距，使得中國粒子計數器的生產和研發也處於落後的狀態。鑒於國內對粒子計數器的計量標定和校準存在廣泛的問題，本公司自主開發建立一套激光粒子計數器標定系統ZLKAMBD－03。經實驗證明，ZLKAMBD－03完全符合JIS B 9921-1997及ASTM F328-98規范的要求，為中國粒子計數器領域提供瞭一個檢定和校準的強有力的工具。

 

ZLKAMBD-03型激光粒子計數器標定系統的實物圖如圖1所示，原理圖如圖2所示。通過潔凈的壓縮空氣，霧化預先配備的一定濃度的標準PSL小球懸浮液，通過氣溶膠擴散乾燥器乾燥氣溶膠為固體小球。通過電暈氣溶膠靜電中和器中和PSL小球表麵的電荷，然後進入氣溶膠稀釋器稀釋100倍後進入100L的均勻混合箱。混合箱的稀釋空氣入口再次補充一定流量的潔凈稀釋空氣與氣溶膠顆粒在混勻箱混合均勻。在均勻混合區域

設置四個等速采樣口，其中一個接參比0.1微米的激光粒子計數器，另外三個等速采樣口可與待測激光粒子計數器相連進行標定，過剩空氣及粒子通過廢氣排放口引出潔凈間過濾後排放。這套系統可標定0.3微米及以上的激光粒子計數器。