薄膜厚度測定機 EF-II

一、用途

      EF-II薄膜厚度測定機又稱（塗層測厚機、測厚機），主要用於測定金屬薄膜塗層的厚度，EF-II測厚機采用非接觸式兩次對焦的光學測量法，附以最先進的電子對焦系統，使得測量的重復誤差在 1-3μm 之間，利用 CCD 加監視器觀察圖像，比人眼觀察更客觀。該機器使用方便、操作簡單、測量誤差小、精度高，EF-II測厚機廣泛應用於電子工業、塑料、橡膠、機械等行業。

二.規格

      1.物鏡:20X、40X

      2.總放大倍數：600X、200X （ 480線CCD ）

      3.工作距離：95mm

      4.工作臺：30 × 70mm

      5、最大測量厚度： 2mm

      6、重復測量誤差：1-3μm

三．機器的成套性  

      1.主機：一臺  

      2.CCD攝像頭一個

      3.CCD適配鏡一個  

      4.移動工作臺一個

      5.內置電子對焦系統一套

      6.數字式千分表一個

      7.監視器一臺