日本大塚電子 授權代理商量子效率量測系統 QE-1000 ---供上海/蘇州/南京/天津/北京/武漢/西安/杭州/濟南/廣州/合肥/等地
我們從事LED測試機器的銷售與研發，憑借集團公司強大技術實力，針對中國LED行業蓬勃發展的需要，我們從全球范圍內精選一系列的著名品牌LED測試機器，憑著卓越的產品質量和良好的售後服務贏得瞭LED客戶的廣泛信賴。 量子效率量測系統 QE-1000產品特色：瞬間內部量子效率量測。 大幅降低紫外光領域的迷光現象，對高量子效率的樣品展現出卓越的測量性能。去除再激發的螢光發光，對帶有高反射率的樣品具有優異的量測精度。搭配分光光譜機(MCPD)，實現高感度、高穩定性的光譜解析。軟體的自動量測功能，可達到掃描激發波長與量子效率的同時量測。(選配)
應用范圍
受紫外光激發的螢光粉體頻譜量測LED所使用的螢光材料頻譜量測光激發頻譜量測LB膜、機能性分子膜的螢光頻譜量測生物發光、散亂光的螢光頻譜量測
型號規格
樣品尺寸波長範圍240nm ～ 800nm分光元件回折光柵，焦點距離 F=3、f=135mm 波長精度±0.3 nm檢出元件CCD影像感測器(電子冷卻) 檢出能力1.2nm/pixel受光光纖石英製，金屬包覆，固定口徑∮12mm消耗電力100V/200V125VA光源套件氙燈 + 光譜機激發波長250nm ～ 600nm波長掃描方式Sine Bar方式(手動 / 自動)*消耗電力415VAAC輸入100V±10%50/60Hz
受紫外光激發的螢光粉體頻譜量測LED所使用的螢光材料頻譜量測光激發頻譜量測LB膜、機能性分子膜的螢光頻譜量測生物發光、散亂光的螢光頻譜量測
型號規格
樣品尺寸波長範圍240nm ～ 800nm分光元件回折光柵，焦點距離 F=3、f=135mm 波長精度±0.3 nm檢出元件CCD影像感測器(電子冷卻) 檢出能力1.2nm/pixel受光光纖石英製，金屬包覆，固定口徑∮12mm消耗電力100V/200V125VA光源套件氙燈 + 光譜機激發波長250nm ～ 600nm波長掃描方式Sine Bar方式(手動 / 自動)*消耗電力415VAAC輸入100V±10%50/60Hz
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Fax:0512-68702009
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