申達KC-1可控矽測試機
一、概述：
KC-1型可控矽測試機，是一種新穎的全數字顯示式多功能可控矽參數測試裝置，它可以測量各種大小
功率的單雙向可控矽（晶閘管），小至TO-92、TO-126、TO-220、TO-3P等封裝的單雙向可控矽，大至
1000A 的平板型可控矽、螺栓型可控矽和各種組合模塊，可以測量觸發電流IGT、觸發電壓VGT、斷態不重
復峰值電壓VDSM、反向不重復峰值電壓VRSM等可控矽主要參數，該機器主要用於可控矽使用廠傢對可控矽
元件的質量檢驗、參數的配對、可控矽設備的維修之用。機器還可以用於其它電子元器件的高低壓耐壓測
試，如：大中小功率的二極管、三極管、場效應管的耐壓，壓敏電阻的電壓值，觸發二極管的轉折電壓等。
二、主要應用范圍：
1、可以測量0.5A-1000A 以下的單雙向可控矽及各種可控矽模塊的IGT、VGT、VDSM、VRSM 。
2、可以測量可控矽專用的雙向觸發二極管的轉折電壓。
3、可以測量各種大小功率的二極管、三極管、穩壓管、場效應管、IGBT及各種模塊的擊穿電壓。
4、可以測量各種大小功率的壓敏電阻、放電管等的擊穿電壓。
5、可以測量非電解類小容量電容器的耐壓（尤其可以測量4KV以下的小容量高壓電容）。
6、一般可控矽測試采用0-4KV等級的機器已能滿足要求，若有其它特殊要求可以定制最高達0-12KV的機器。
三、主要技術參數：
1、觸發電壓VGT測量范圍： 0—5V ， 精度 ≤2.5%。
2、觸發電流IGT 測量范圍： 0—19.99mA ，0—199.9mA ， （分兩檔） 精度 ≤2.5%。
3、可控矽耐壓參數測試用高壓輸出和測量范圍： 0—2KV、 0—4KV ，（分兩檔） 精度 ≤2.5% 。
4、其它電子原器件耐壓測試用高壓輸出和測量范圍： 0—2KV、 0—4KV 。
該測試機是我根據幾十年豐富的實踐經驗自行研究設計制造，
其特點是：1、實用性強 。2、測量范圍廣。3、使用方便。4、采用一種特殊的可調恒壓限流電源可確保
在測試耐壓的過程中不易損壞被測器件。
平板型可控矽的觸發電壓和觸發電流測試
（實測的可控矽為KP1000A平板型可控矽）
測試的結果是：觸發電流=39.5mA 觸發電壓=1.09V 此時錄色導通指示燈亮，同時機內蜂鳴器響。
平板型可控矽的VDSM/VRSM--正、反向不重復峰值電壓的測試
這是一隻正反向重復峰值標稱電壓為800V的可控矽
測試結果是：該1000A平板型可控矽的實測正向電壓值為1450V，此時紅色指示燈亮
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