產品簡介：
在維修各種電子設備時，您是否常因圖紙資料不全而束手無策？您是否常因高昂的維修費用而增添煩惱？
高能檢測機GT-4040P幫助您解除電路板維修中的煩惱。 高能檢測機配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢測到電路板上故障元器件。
*先進的測試技術，強大的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好；
*友好簡單的中文操作界麵，不經專業訓練，任何人均可成為維修專傢；
*無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修；
*40路數字電路測試功能，備有TTL、CMOS及中大規模集成電路數據庫；
*40路/2路（ASA）V/I曲線分析測試功能；
*電路板測試存儲功能，被測板可與之比較；
*真正的總線動態隔離信號，使IC測試更加準確；
*全麵電路網絡表提取，使您方便畫出相應原理圖；
*全麵存儲器測試，方便您對存儲器測試及在線讀取；
*簡單編程語言，使您自行擴充庫成為現實；
*與進口同類機器比較，性價比更優，操作更方便。
工作原理:
（Analog Signature Analysis）對元件每個管腳提供一個安全、低功率的掃描驅動電壓信號，以便產生一個阻抗特性圖並在CRT上顯示，且可存儲，以備比對。所有測試都是在靜態下（不加電）執行，所以不會傷害到元件。它不僅能快速掃描並存儲各類IC每個管腳V/I曲線圖形，並且對各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。
（In Circuit Testing）它能把待測元件與PC資料庫內相對應的元件資料作邏輯功能測試比較，測試時可在CRT上顯示元件管腳連接狀態、元件輸入管腳的輸入波形，同時顯示相應輸出管腳的實測波形及標準波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞，也可測試分析，還可識別不明型號的IC。
主要測試功能:
數字IC功能測試
本功能采用後驅動隔離技術，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測試74系列、4000/4500邏輯IC、75系列接口IC等兩千餘種集成電路。將測試機上的5V外供電源通過隨機所帶電源鉤引到被測板，再把測試夾夾在被測IC上，輸入其型號，測試機就在微機的控制下，自動進行測試，並將結果顯示出來。在這個過程中，測試機首先檢查是否對被測板正確供電，然後檢查測試夾同被測IC是否接觸良好。一切正常，再檢查被測IC各管腳處於何種狀態（比如電源，地、輸入/輸出等）以及哪些管腳短接在一起，據此求出相應的測試碼，送到被測IC輸入端，再從IC輸出端取回對測試碼的響應。將取回的實測響應和計算出的預期響應相比較，就能發現故障。（後驅動隔離技術：後驅動隔離技術由美國施倫伯傑公司的Factron在68年提出。早在這類在線維修測試機出現之前，就在生產用大型針床式電路板測試機上得到廣泛應用。該技術利用瞭半導體器件允許瞬態過載的特性，向被測IC的前級輸出灌進瞬間大電流，強迫其按測試需要由高變低或由低變高。達到被測IC輸入在線施加測試碼的目的。）
快速測試
故障電路板上有許多中小規模IC，究竟哪些IC是有問題的，可利用"快速測試"迅速進行篩選。此功能僅給出IC是否通過測試的結果，不提供任何故障診斷信息。下一步用診斷測試對未通過測試的IC作進一步的檢查。
診斷測試
該測試不僅給出測試是否通過的信息，測試過程中的測試碼波形、響應波形、各管腳的邏輯狀態、測試前的管腳電平、管腳的連接關系以及器件圖都能顯示出來，供您查閱。比較預期響應和實際響應的不同，可進一步瞭解IC測試失敗的原因。 圖為74ls24的管腳電平和連接關系
IC循環測試（Loop Test）
該功能專為檢查因溫升造成的故障而設。有的IC開機運行幾分鐘後，由於溫升而失效，當停機後尋找故障時，溫度降低功能又恢復正常。這種故障使維修人員深感頭痛，"循環測試"功能有助於發現這種問題。
無型號IC識別
功能測試時必須鍵入被測IC的型號，但經常有IC型號不清楚或故意擦掉的情況，使得測試工作無法進行。本功能可迅速把無型號的IC的型號自動查出來顯示在屏幕上。但這種查找必須是器件庫內有的，並且功能必須完好。
離線測試
上述幾種測試功能均可在隨機的離線測試器上進行。並且結果更準確。可用器件篩選，或對在線測試有問題的器件做進一步的確認。
數字IC狀態測試
路板上每個數字器件，在加電後都有3種狀態特征：各管腳的邏輯狀態（電源、地、高阻、信號等）、管腳之間的連接關系、輸入輸出邏輯關系。當器件損壞後，其狀態特征一般都要發生變化。測試機能夠把好的電路板上各IC的狀態特征提取出來，存入微機的數據庫中，然後與同類有故障的電路板進行比較，從而可相當準確的找到故障器件。這類學習的板越多，日後的工作越方便。 這種測試方法不僅適用於器件庫中已有的IC，也適用於庫中沒有的IC。是檢測各種專用器件、PAL、GAL、EPLD等可編程器件以及大規模集成電路強有力的手段。
VI曲線分析測試
本測試功能建立於模擬特征分析技術之上。可應用於模擬、數字，各種專用器件、可編程器件以及大規模、超大規模器件。 使用測試機進行此項測試十分簡單。隻需用探棒點到好板子上的元件管腳上，或者用測試夾夾在器件上，測試機就能自動把該結點的特征曲線提取出來，顯示在計算機屏幕上，最後存入計算機中。通過同樣簡單的操作，可以將庫中的曲線和新測到的曲線在屏幕上同時顯示出來。比較兩者之差異就能發現故障。 曲線在計算機中是以電路板為單位存放的。一個板一個文件，板上所有結點的曲線都放在該文件中，沒有容量限制。允許用軟盤拷貝出來。 該項測試一般要求在被測板不加電的情況下進行檢測（隻是註意板子上的電壓不能高於掃描電壓），這在很多情況下有助於進一步確認故障。 邏輯器件管腳節點處含有R、C、L元件，或者是模擬集成電路的故障，用"IV曲線分析"方法是很有效的。 "VI曲線"反映瞭節點處的阻抗特性，實際電路中的曲線形狀是多樣的，我們要熟悉典型元件的曲線形狀；如純電阻為直線，其斜率大，阻值小；純電容為一橢圓，橢圓的Y/X軸比例越大其容量也越大，以及我們常見的二極管、穩壓管等不對稱非線性PN結特征曲線等等。實際電路中提取的VI曲線必是這些典型曲線的合成。所以根據實際電路節點的VI曲線幾何形狀，可大致推測出該節點是哪些元件組成的；反之也可推測出某些屬性節點提取的曲線的大概形狀。如果比預測形狀相差甚遠，肯定有問題。 " VI曲線分析"還有另一個實用性：即當電路板上芯片溫度異常過熱，為瞭避免擴大故障范圍，不適於加電測試時，可改用"VI曲線分析"（不加電）逐個管腳檢查，能確切地定位故障點。 測試時需要註意的是當元件阻值（或阻抗）過大（R>300K，C<500PF）、過小（R<10，C>400uF）時，其曲線與開路、短路無法區分。VI曲線分析的這種局限性供您工作中參考。
全麵存儲器測試
全麵存儲器測試可對SRAM/DRAM，PROM/EPROM存儲器共1500餘種；
進行在線/離線、快速/完全測試，滿足不同測試需求。 對PROM/EPROM，將其中的內容讀取出來，和以前電路板無故障時讀出並存儲在計算機中的內容相比較，不一致則說明有問題。 DRAM/SRAM，在測試期間先寫入，再讀出。寫入內容和讀出內容不一致則說明有問題。
快速測試
其特點是測試速度很快，用於迅速檢測被測存儲器是否有故障。它不遍歷每個存儲單元，隻按一定算法取部分存儲單元進行測試。
完全測試
遍歷每個存儲單元，所以可把PROM/EPROM中的內容全部讀出來，存成二進制文件，供用戶復制或剖析。
離線測試
對未焊接在板子上的存儲器進行測試，離線測試隻有完全測試。
在線測試
對焊接在板子上的存儲器進行測試。存儲器測試的特點是時間長。完全測試一個2K容量的存儲器，也比最復雜的邏輯器件所用時間長得多。所以在線測試支持快速測試和完全測試。並且對完全測試進行瞭特殊處理，使得既能訪問到每一個存儲單元，有能保證測試安全。 存儲器往往都掛在總線上，要保證在線測試準確，需用GUARD信號進行總線隔離。測試存儲器所需要的時間與存儲容量成正比。對一個容量1K字節的讀寫存儲器進行完全測試（即遍歷每一個存儲單元），至少需要4096個測試節拍。對容量為2K、4K、8K的存儲器，其測試時間分別是測1K存儲器的2倍，4倍，8倍。
LSI分析測試
LSI測試分析與中小規模IC的測試原理有很大差別，主要不同點在於：LSI內部結構與中小規模IC不同，其輸入輸出邏輯關系不能直接確定。一片LSI器件的功能一般都由許多子功能組成，如CPU器件就有取數、中斷、復位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小模式之分。對LSI的測試就是對它的每一個子功能都用一段相應的測試碼進行測試，我們稱之為"子測試"，也就是說每個子測試隻測一片LSI器件的一項子功能。通過好壞板上的子測試的比較情況來判斷被測LSI器件是否有故障。 測試分析LSI首先要"離線學習"，以得出"參考文件"，再"離線測試"，以得出被測LSI的準確數據備用，然後"在線學習"好的被測板上的相同的LSI數據存入硬盤供日後與故障板進行比較。一片好的LSI器件，"離線測試"時應通過全部子測試，但在線時由於實際使用方式的不同，有的子功能使用，有的子功能不使用。那麼好的LSI器件"在線學習"時，對其不使用的子功能（或方式），在進行"子測試"時，允許它不通過（失效）。因此這就要求先用一塊好電路板，通過學習其上的LSI器件，可確定通過瞭哪些子測試，哪些沒有通過並存入盤內，供日後對相同的、有故障的電路板做對照比較測試。如果與當時存入的那些子測試的通過情況不同，則表示該器件可能有問題。
電路網絡表提取及測試
A.全麵電路網絡表提取
為瞭得到被測電路板的電路圖，以便日後更好地開展維修工作，您往往希望得到被測電路板的電路圖。也許您（包括許多人）已經用萬用表嘗試過此項工作，用測試機的此項功能您會有重新體會。 所謂"全麵"網絡表提取，是指測試機提供三種操作模式，能夠處理各種元器件之間的連接關系的提取。
測試夾 ――― 測試夾
這種模式主要用來處理數字IC之間的網絡提取。用邏輯信號來檢查IC之間是否直接相連。提取速度快，工作效率高。
測試夾 ――― 測試探棒
這種模式主要用來處理IC和分立元器件（包括一端是可使用測試夾的IC，一端是不能使用測試夾的IC）之間的連接關系。
測試探棒 ――― 測試探棒
這種模式主要用來提取分立元件之間（包括不能使用測試夾的IC）的連接關系。 後兩種模式更多地涉及到模擬器件，所以用模擬信號來檢查元器件之間的連接關系。目前的測試機在後兩種模式下，能夠識別約8歐姆以上電阻、3.2毫亨以上電感和400微法以下電容。
B.全麵電路網絡測試
目前的電路在線維修測試機，其各種測試功能，都是用於檢查電路板上元器件的功能性故障的。對於電路板本身的故障，比如由於斷線或金屬化孔不通造成的開路故障；焊接或引線毛刺造成的短路故障則無能為力。由於這類故障往往不以元器件的功能異常表現出來，而是表現為電路板網絡表的改變，所以，利用從好的電路板上"學習"到的網絡表，去同相應的故障板做對照檢查，就能發現電路板本身的開路/短路故障。 一般而言，在維修工作中，電路板的開/短路故障相對比較少見。而在電路板的生產調試中，絕大部分故障都是這種故障。所以，網絡測試功能不僅使得測試機能夠更好地應用於維修測試，而且使它能夠有效地用於小批量電子產品生產中的電路板故障檢測。 網絡測試的使用過程和提取基本一致。比較是否有錯由計算機自動完成，並將出錯結果在屏幕上顯示出來。
完善的輔助測試功能使檢測更加可靠、準確
*真正的總線動態隔離信號
從在線測試角度看，有兩個以上的三態器件，其輸出並接在一起就構成總線。測試期間的總線競爭是導致誤判的最常見原因之一。而靜態總線隔離信號是危及測試安全的常見情況。測試機提供給您的是真正符合後驅動要求的動態隔離信號。隻要簡單地將它引到造成競爭的IC的使能端，該信號將在測試瞬間將該IC從總線上隔離開，保證測試準確。
*測試夾接觸檢查
IC管腳氧化銹蝕、保護塗層未打磨乾凈或測試夾未夾牢靠都會造成接觸問題。這是造成錯誤測試結果的又一常見原因。測試機會在測試前檢查接觸情況、發現問題將及時在屏幕上提示出來。
*自動加上拉電阻
測試機可以識別集電療開路器件，在測試時加1K上拉電阻、無需另外費心。
*掉電監測
這是一項十分重要、用戶需要十分關註的功能。瞬間掉電（電網上的強烈乾擾，電源接插件晃動等）往往發生於你毫無察覺的情況下。它會使測試機電路狀態混亂，導致測試通道失控，從而危及被測板電路的安全。大多數情況下會造成器件特性軟化，工作壽命降低。但這種損壞，用戶往往當時難以察覺。測試機設有全麵硬件掉電監測，可在掉電恢復後，立即（毫秒級）將電路及測試通道置於預期狀態。
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