電路板故障測試機 型號:CMTH4040-2 | 貨號:ZH9989 |
產品簡介 電路板故障測試機是一種性能優良、操作簡單、經濟實用的電路在線維修測試機器,能夠在線檢測各種類型的故障;並將定位到集成電路、元件、端口或電路結點上;電路在線維修測試機,可以大大改善工作效率,提高故障檢出率,讓維修工作變的高效、快捷、準確。 產品特點 雙處理器技術,集成16位的下位機,擁有獨立的CPU系統,不受計算機Windows分時特性的影響,獨立運行 標準的USB2.0通訊接口,與計算機通訊安全、快速、便捷,支持熱插拔;有並口機型可供選擇 安全穩定運行於最新的Windows Viste/XP/NT系統內, 測試機軟、硬件與計算機技術同步發展延伸 雙探棒/雙板直接對比測試,適用於相同電路板診斷測試 產品技術 後驅動(Backdoor)技術:引進美國後驅動隔離技術,用來實現數字器件之間在線(In-circuit)的隔離 自適應測試技術:自動識別被測試電路的自身連接情況並自動修改相應的測試代碼,確立測試條件,保證測試的準確性 數字器件的閾值電平可調:在工業標準值下可以通過測試,逐步提高門檻到極限值,可發現器件參數型故障(軟故障) ASA(Analog Signature Analysis)模擬特征分析技術:引入ASA技術用來解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測試 三端器件(三極管、穩壓管、可控矽、場效應管等)的測試:引入八種觸發脈沖與掃描信號同步測試三端器件 電容C、電阻R、電感L定性定量的測試:在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測試電容量(阻抗、電感量)及漏電阻值 對測試數據圖形化顯示、開啟計算機聲音提示功能:當測試在允許的誤差范圍內,系統將聲音提示以降低工作強度 自動識別靈敏度調整(自動選檔功能):自動識別調整測試輸入阻抗,匹配最佳的測試參數,以降低操作難度 參數指標 數字通道:40+8路(其中8路數字通道是總線隔離通道,是用來隔離數字電路裡總線競爭情況的專用通道) 模擬通道:40路(40路模擬單通道屬性,可支持雙探棒直接對比測試,網絡提取可同時提取2個20腳的器件) 其它通道:2路探棒掃描通道、2路脈沖觸發通道(用來測試分立元件、端口、結點、集成塊、三端、兩端器件等) 測試范圍:TTL、COMS、DRIVER、SIEMENS、RUSSIA常用5V邏輯器件、存儲器EPROM、RAM、LSI(測試器件功能故障) 任何的電路結點、端口、金手指;任何功能已知未知LSI、貼片SOIC、方形PLCC器件的管腳(測試器件端口故障) 數字信號: 驅動電平幅度:5V系列邏輯電平(高電平>3.5V、低電平< 0.8V ); 後驅動電流>200mA 測試速度:分1Ktv/S、5Ktv/S、20Ktv/S、45Ktv/S四檔可選; 在線環境識別11種狀態 閾值電平:TTL(緊、松),COMS(緊、松)、自定義閾值電平可選可調;加電延遲時間7檔可選 手動加電/程控電源可選 程控外供輸出電源:5V/4A 6、模擬信號: 波形:正弦波/三角波/鋸齒波 波形失真度:<2% 掃描電壓:±1V~±28V內 以0.5V 的增量可調 頻率:1Hz~16KHz內,30檔可選 輸出阻抗:100Ω/1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選 最大電流:150mA 觸發脈沖:8種觸發方式(6種與掃描信號同步) 脈沖幅度:±1V~±28V內 以0.5V 的增量可調 測試功能: 數字邏輯器件在線(離線)功能測試: 數字邏輯器件在線(離線)型號識別: 數字邏輯器件在線(離線)循環老化測試: 存儲器PROM、RAM在線(離線)測試: 數字邏輯器件在線 狀態比較測試: 數字集成電路LSI 在線(離線)分析測試: ASA端口模擬特征曲線測試: 分立元件、三端器件測試: 雙板/雙測試夾/雙探棒直接對比測試: 全麵網絡提取測試: 輔助功能: 系統自檢與設置: 測試器件檢索: 元器件速查手冊: 數字邏輯器件擴充庫平臺: 維修日記以: 後臺自動生成記錄: 環境要求: 溫度:18℃-40℃ 相對濕度:20%-80% 電源:單相220V ±10%,50HZ 技術指標 計算機操作系統: 支持WIN98/WIN2000/WINXP/vista 數字測試通道:40通道,支持驅動閾值電平 +5V 總線隔離專用數字通道:8通道,用來隔離掛在總線上的其它三態器件,避免由於總線競爭乾擾測試的準確性 後驅動電流:≥200 mA 測試速度:(1~45Ktv/S),4檔可選 在線測試提取數字器件管腳狀態: 11種 數字器件功能施加測試時間: <26 mS 數字器件的閾值電平; TTL(緊、松)、CMOS(緊、松)、自定義閾值電平 測試器件庫:TTL54/74、CMOS40/45、8000、9000、驅動器、接口器件、RAM、EPROM、模擬開關、電壓比較器、俄羅斯庫、西門子庫(國內唯一) 程控外供電源(自動控制、自保護功能): 5V/4A 電源加電延遲時間:(0.5~10)秒 7檔可選 模擬測試通道: 40路 測試探棒:2組 模擬信號掃描電壓幅度:±1V~±28V, 步距0.5V可調 VI分辨率:8~128點/周期(用示波器可測) 輸出阻抗匹配:0.1KΩ / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選 ASA模擬特征分析測試顯示坐標:3種可選(VI /VT /VR) 模擬通道最大測試頻率:16KHZ ASA(VI)測試頻率匹配:1HZ~16KHZ,共30檔可選 ASA雙板比較測試。 主要測試功能: 程控電源輸出功能: 提供+5V測試電源,程控加電,擁有自動保護功能,安全可靠,不用外接測試電源,使用方便; 電源機電式繼電器輸出控制:采用安全可靠的機電式繼電器,與光電式比較,接觸電阻更小,約0.01~0.02Ω,其百萬次量級的使用壽命,幾百毫秒的動作時間足以滿足實際應用要求。 數字邏輯器件在線功能測試: 測試器件庫龐大;測試范圍廣:TTL54/74、8000系列、9000系列、CMOS40/45、俄羅斯器件庫、西門子器件庫(國內唯一)。 數字邏輯器件在線狀態測試: 采用學習、比較的測試方式,能夠提取11種復雜的電路在線狀態,如開路、邏輯翻轉信號、非法電平、總線競爭等等狀態,所以,對測試器件外電路的識別能力強,低檔測試機一般隻能識別2-3種 。 動態總線競爭信號隔離功能: 用於解除總線競爭,保正測試掛在總線上的三態器件(如74LS373、74LS245、等)的準確率,可提供8路總線競爭隔離信號; IC型號識別: 針對標識不清或被擦除型號的器件,可“在線”或“離線”進行型號識別測試,測試結果顯示出器件型號;對識別後的器件可直接進行功能測試加以驗證; 器件“離線”功能測試 所有庫器件都可進行“離線”功能測試,如:數字邏輯器件、存儲器、集成運放、光電耦合器等器件; LSI大規模集成電路在線功能測試: 可對:Z80、8255、等器件進行功能測試; LSI大規模集成電路在線狀態分析測試 可采取學習、比較的方式對一些常見的LSI器件進行狀態分析測試; SRAM / DRAM讀寫存儲器在線測試 直接檢測存儲器芯片的好壞,該測試無需事先學習,有獨立的測試器件庫,可采用在線、離線測試方式 EPROM在線直接讀取/比較測試: 可采取在線(離線)學習/比較的測試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來,保存到計算機上,再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試;測試結果定位到存儲單元地址上,並打印出該地址正確和錯誤的代碼。 器件循環測試功能: 該功能可對數字邏輯器件、集成運放、光耦等器件進行重復測試,直到出現錯誤或被終止,易於發現一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障); 測試夾自動定位功能: 該功能可以將測試夾以正、反方向,對齊或不對齊第一腳的方式夾在被測器件上而不影響測試結果,利於提高測試速度; 數字邏輯器件在線測試速度可選: 為瞭保證器件測試的準確性、降低誤判率,滿足不同器件對測試速度指標的不同要求,而設置瞭速度可選項;如:對負載能力弱的CMOS器件應選較低速度測試,一些集成度高、編程復雜的器件必須選擇較高速度測試。 數字邏輯器件測試閾值可調功能: 閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除瞭給出常用的幾種電平值供直接選取外,還可選自定義。閾值電平的選取要與被測器件的類型相一致;在邏輯器件測試時,有時會遇到用閾值電平緊測試不通過,而用閾值電平松就能通過的現象,一般是器件的部分參數發生瞭變化,如驅動能力下降,使用自定義可確定器件實測的閾值電平; 加電延遲可選功能: 被測電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大,充電時間越長。該選擇是確定在測試機接通外供電源以後,需要等待多長時間後才開始進行測試。缺省為0.5秒; 測試夾接觸檢查功能:該項功能主要解決當測試夾與被測器件接觸不良時,造成的測試誤判,如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不乾凈等; 瞬時復位電路控制功能:當測試機突然掉電,又突然上電的情況下,不會造成測試機內部狀態混亂而帶來安全性問題; 聰能自定義功能測試平臺: 把測試機的測試通道開放給用戶,由用戶對被測器件自行定義測試代碼,可以進行功能測試,前提是用戶需要對器件工作原理有一定的瞭解,或有被測器件的使用資料,適合有圖紙資料情況下的開發工作; 以編程方式擴充數字器件庫: 采用HNDDL語言(天惠電子自主開發的用於描述邏輯過程的專用語言,擁有自己的版權),自適應技術完善;把擴充程序直接開放給用戶,由用戶自己可以自行填加測試器件庫; ASA(VI)模擬特征分析測試: 通過對器件端口進行模擬特征分析測試方式(VI曲線學習/比較測試),可以發現器件端口型的故障(一般能占到維修當中的80%左右)適用於數字器件、模擬器件、模擬數字混合器件(如AD、DA等),對器件的封裝形式也不受限制,可適應於對任何器件的測試; ASA多種觀察坐標顯示: 有三種顯示方式:VI/VT/VR,一般用VI坐標觀察曲線,有人習慣上把ASA也叫成VI測試; 單端口(交叉)VI曲線分析測試: 對器件采取單端口測試方式;單端口測試方式是指每個管腳對地阻抗特性曲線提取; ASA 曲線雙探棒動態比較測試: 使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應節點時時的進行動態比較測試;當被測板上的器件不能使用測試夾測試時,此種方法最有效; ASA 曲線測試智能提醒功能: 當使用雙探棒進行比較測試時,如果超差,機器會出現報警聲音,引起使用者註意,該測試方法利用微機喇叭產生類似於萬用表Beep的效果,提高瞭檢測效率,也大大降低瞭勞動強度; ASA 測試曲線靈敏度可調: 當ASA曲線走勢趨向於45度時,如果曲線的數據發生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精確,曲線反映故障靈敏度與測試參數相關,適當調整測試參數能夠得到更靈敏的曲線;該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線,有效的提高瞭故障檢出率; 27.ASA 曲線掃描電壓可調:(示波器可測) VI掃描電壓±1V~±28V, 步距0.5V可調。低檔測試機一般設定幾檔可選但不可調 ASA 曲線測試頻率可調:(示波器可測) VI測試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測試機一般為設定不可調,或給不出頻率指標(國內唯一能夠提供頻率指標的測試機) ASA 曲線測試輸出阻抗可選: 輸出阻抗匹配:0.1KΩ / 1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選: ASA 曲線快速診斷分析測試: 以40管腳VI曲線單端口測試為例,全過程測試時間< 1秒; 可按管腳設置ASA 曲線測試參數: 可根據具體器件的測試需要,給不同管腳設置不同的測試參數,可設置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高瞭測試的靈活性; ASA 曲線故障快速定位/查找功能: 當VI測試出現故障曲線時,測試機提供快速的曲線定位/查找功能選項,使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀,測試效率更高; 雙探棒、雙板對比測試; ASA 曲線多種排列/顯示方式: 可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點”或“畫線”來顯示曲線,單個管腳的曲線可以單獨放大或縮小; 分立元件測試: 可單獨對電路板上的分立元件直接進行VI曲線分析測試:如電阻、電容、電感等,也可以通過學習/比較的方式進行測試; 可測器件檢索功能: 內置強大的搜索引擎,可以對器件庫進行檢索;檢索後可列出器件型號、所在器件庫、管腳數、封裝和功能描述。 元器件速查手冊(電子詞典): 目前容量已達近四萬種,並在不斷地擴充中,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息; 元器件手冊整理: 可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊當中,使用起來會更方便; 數據庫整理功能: 對IC狀態庫、LSI在線學習庫、EPROM離線完全學習庫、EPROM在線快速學習庫、EPROM在線完全學習庫、網絡測試庫進行整理、刪除、更名等操作; 維修日記: 供記錄日常維修的經驗體會,發生的重要事情等,長期保存這些資料並積累經驗,會大大提高維修水平和技能; 測試信息打印輸出功能: 支持對各種測試界麵下的打印; 後臺操作記錄管理: 測試機會自動記錄測試過程及測試結果等信息; 操作幫助指南: 給使用者提供正確的操作方法、步驟; |
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