納米粒度/Zeta電位分析機概要：納米顆粒系列機器可以靈活地測量分析微粒的物理性質。它可用於粒度大小分析機，也可用於Zeta電位、分子量（MW）和維裡系數（A2）的測量。SZ-100的典型應用包括：納米粒子、膠體、乳膠和亞微細粒懸浮液的測量。
粒度分析通過動態光散射（DLS）實現，對於不同物理性質的樣品，其測量動態范圍為：0.3nm-8um.它的檢測下限受樣品濃度、散射光強度和存在的大粒度乾擾粒子的影響，監測上限受樣品的濃度影響，因為動態散射光的運動模式來自於佈朗運動而非重力沉降。
離子表麵電荷具有用測量Zeta電位懸停的特征。將樣品註射進樣品池，由粒子電泳淌度得出Zeta電位。樣品的Zeta電位通常作為散佈穩定性的指示，大數量級的Zeta電位值表明靜電穩定懸浮將會保持穩定，Zeta電位的測量通常作為PH或者其他化學過程中的變化，以幫助配方設計師創造出保存期限更長的新產品。相反地，識別條件在Zeta電位為零時（也就是說樣品在等電點）允許為粒子絮凝化和分離選擇最佳條件。
這款機器還能夠用於測量分子量、蛋白質、聚合物和其他分子的第二維裡系數。操作者準備幾種已知濃聚物的溶液，然後用系統的靜態光散射模式去創建一個Debye圖，通過這個結果可以算出MW和A2.
規格：
A） 粒度：動態光散射（DLS）技術
測量范圍：粒子直徑：0.3nm-8.0um
測量精度： 顆粒大小：符合ISO13321/22412，NIST可追蹤的聚苯乙烯乳液粒子的標準：100nm測量精度=+-2%
濃度： 下限：0.1mg/mL(溶解酵素)上限：40wt%(取決於樣品)
測量時間：通常2分鐘（粒度測量）
取樣單元： 比色池
取樣量：12um-4mL (取決於樣品池的容量)
B)Zeta電位：激光多普勒電泳技術
測量范圍： -200~200mV
測量時間：通常大約2分鐘
取樣單元：專用一次性樣品池
取樣量：100ul(對於一次性樣品池)
C)分子量：靜態光散射Debye圖技術
測量范圍：MW：1*10^3-2*10^7g/mol
樣品池：比色池
物理參數：
供電電源:AC100-240V,50/60Hz,150VA
激光器：DPSS 532nm,10mW ClassI
接口：USB2.0
外形尺寸：385（D）*528（W）*273（H）mm
重量：約25kg
使用溫度范圍：1-90度（粒度測量），1-70度（Zeta電位測量）
工作溫濕度：15-35度，相對濕度<=85%
冷凝控制：凈化端口連接有效
產 品 說 明：
超寬動態光散射測量范圍: 0.3nm～8000nm
Zeta電位測量范圍：-200 to +200mV
靜態光散射測量分子量范圍：1*10^3 to 2*10^7Da
通過采用與NEDO國傢項目共同開發的相關器，實現高性能化。
在單一納米粒子專用光學系統中，采用更低雜散光90°檢測光學系統。
雙光路系統（90°和173°）適用於更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行泥漿、顏料等高濃度樣品以及蛋白質、聚合物等低濃度樣品的測定。 Zeta電位測定
通過安裝HORIBA自主研發的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。
主要特點：
◎超小體積設計，將解析納米尺寸重要的三要素(粒子直徑、Zeta 電位、分子量測定)的測定囊括於一身。
◎從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態下進行測量。
◎微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨自研發，可以測定取樣調查僅100μL的 Zeta 電位。
◎適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用。
◎操作簡單，進樣、設定參數後，隻要按開始按鈕即可得到測量結果
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