通過國傢質監總局科技鑒定（國際先進，國內領先） 

TOFDⅡ級培訓考核機器    可為您“量身”定制各類掃查裝置！

HS800內置P掃描成像系統（聲定位掃查）

          P掃描成像即投影成像，一改傳統機械編碼器定位方式，采用全新四通道聲定位系統，避免各種外界磁場乾擾，對探頭聲束精確定位。內置閘門高度及DAC曲線兩種靈敏度成像模式，同時顯示C掃描圖像（俯視）、D掃描圖像（側視）、B掃描圖像（平視）、A掃描圖像，可對缺陷進行空間位置和形狀上的評估。

 HS800性能特點

A特優點
全中文菜單操作模式，方便快捷

超高亮彩色液晶顯示器

超聲衍射波探傷，解決傳統探傷單次掃查區域的局限性和不直觀性

缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示

便攜掃查器代替手工掃查，探傷更快、更精確

多通道TOFD探傷，實現焊縫非平行掃查一次性全麵覆蓋

超大機內存儲空間，探傷數據回放及離線分析

高性能安保鋰電，模塊插接，一機兩電，超長續航

B數字電路
采樣頻率：125M

頻率帶寬：0.5~15MHZ

采樣延時：1200mm

脈沖電壓：-400V

脈沖前沿：15ns

重復頻率：125HZ

匹配阻抗：25Ω、500Ω2檔可調

檢波方式：數字檢波方式

增益范圍：0dB~110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調節）

閘門數：每通道2個位

C掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全麵覆蓋200mm厚度以內焊縫的分區掃查

D探傷功能
掃查方式：可對焊縫進行全麵的平行和非平行掃查

缺陷定位：數據分析線能直接讀出缺陷深度以及非點狀缺陷的自身高度

焊縫內部缺陷顯示：直觀顯示焊縫中缺陷的位置和上下端點位置

A型掃描：射頻顯示提高機器對材料中缺陷模式的評價能力

B型掃描：實時顯示缺陷截麵形狀

D型掃描：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷並對缺陷模式進行評價

E數據存儲與輸出
1通道、5通道、7通道三種可選，預先調校好各類探頭與機器的組合參數，方便存儲、離線分析、復驗、打印、通訊傳輸

超大內存容量，單次掃查即能記錄長達2米被檢工件內部缺陷的檢測圖

支持USB、LAN、VGA輸出

HS800技術參數

獨立工作通道：可根據機器配置選擇通道數，最多可選7個通道

最多連接探頭：10

脈沖類型：負放電脈沖

增益范圍：110dB（0.1dB、2.0dB、6.0dB步進，全自動調節）

聲速范圍：(300~20000)m/s

波形顯示方式：射頻波，檢波（全檢、負或正半檢波），信號頻譜（FFT）

掃描延時：0~500us可控0.008us精度

掃查定位：時基（內置實時時鐘-0.02秒精度）/真實位置（增量編碼器-0.5mm精度）

成像模式：根據選擇的操作模式和相應的機器設置顯示厚度B掃、B掃、D掃、P掃、TOFD圖象

直線掃查長度：50~2000mm自動滾屏

記錄方法：完全原始數據記錄

離線分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形

          缺陷尺寸和輪廓

          厚度/幅度數據統計分析

          記錄轉換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel格式報告

數據報告：直接打印校驗表、A掃、頻譜圖、厚度B掃圖象、B掃圖象、TOFD圖象、D掃圖象、P掃圖象