KC-2型可控矽測試機簡介
一、概述
KC-2型可控矽測試機（又名：全系列塑封可控矽、可控矽光耦測試機），是2005年最新研究設計成功的
一種新穎的數字顯示式多功能半自動可控矽和可控矽光電耦合器參數測試裝置。
１、它可以測量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的各種電流等級的塑封單、雙向可控矽（晶閘管）。
２、專門設計瞭0-1O00uA的觸發電流量程，可以直接測量MCR100-6等微安級觸發電流的可控矽。
３、可以測量DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控矽輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控
矽輸出的光電耦合器。
４、可以測量200A以下的螺銓型單、雙向可控矽和可控矽組合模塊。
５、測試觸發電流和觸發電壓時無需人工調節，可控矽插入測試座後機器會自動的調節至觸發值，並穩
定的顯示觸發電流 IGT / 觸發電壓 VGT。
６、測試可控矽耐壓參數時隻需一次性調節好最高輸出電壓值，以後每測一個管子隻要按下高壓按鈕即
可顯示該可控矽的耐壓值。
該機器主要用於可控矽使用廠傢對可控矽元件的質量檢驗、參數的配對、可控矽設備的維修之用。機器
還可以廣泛的應用於對多種電子元器件的高低壓耐壓的測試。機器外型美觀、性能穩定、測量準確、使用安
全方便。
二、主要技術性能
1、可控矽觸發電流IGT 測量范圍： 6—1000uA ，0—10.00mA, 0—100.0mA 精度：≤3 % 。
2、可控矽觸發電壓VGT測量范圍： 0—5V， 精度：≤5 % 。
3、可控矽光耦輸入端LED觸發電流IFT測量范圍：0—10.00mA, 0—100.0mA 精度：≤3 % 。
4、可控矽光耦輸入端LED觸發電壓VFT測量范圍：0—3V 精度：≤5 % 。
5、可控矽和可控矽光耦輸出端，正反向不重復峰值電壓VDSM/VRSM測量范圍： 0—2KV精度：≤3 % 。
6、可控矽和可控矽光耦輸出端，正反向重復峰值電壓VDRM/VRRM測量范圍： 0—1.6KV精度：≤5 % 。
三、主要測試功能
1、全系列單雙向塑封可控矽觸發電流IGT、觸發電壓VGT的測試，正反向不重復峰值電壓VDSM / VRSM
的測試，正反向重復峰值電壓VDRM / VRRM的測試。
2、DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控矽輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控矽輸出的
光電耦合器輸入LED端IFT / VFT的測試，輸出端可控矽正反向不重復峰值電壓VDSM / VRSM的測試，正反向
重復峰值電壓VDRM / VRRM的測試。
3、電流在200A以內，VDSM / VRSM在2KV以內，觸發電流在120mA以內的螺銓型單、雙向可控矽和可控矽
組合模塊的觸發電壓IGT、觸發電流VGT的測試，正反向不重復峰值電壓VDSM / VRSM的測試，正反向重復峰
值電壓VDRM / VRRM的測試。
4、2KV以內的各類二極管、三極管、達林頓管、整流橋、MOS場效應管、IGBT及各種模塊的耐壓測試。
5、2KV以內的壓敏電阻、穩壓管、雙向觸發二極管等電壓值的測試。
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