機器介紹
上海精譜是亞洲專業生產高性能X熒光光譜機(XRF)的公司。2014年推出的新款高性能、臺式X熒光考古檢測分析機EDX 3600K型,融匯全球領先的考古分析技術！
我公司研制生產的EDX3600K型的機器，利用中國歷史博物館和上海矽酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的權威部門提供的標準陶瓷片樣品為機器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為瞭更好的利用X熒光分析機器的無損測量特性，我公司特意根據行業需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。
EDX3600K型機器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測必備的科學檢測機器。中國歷史博物館、中建拍賣等都是其用戶。
技術指標
產品名稱：EDX 3600K型 考古檢測X熒光光譜機
型號：EDX3600K型
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm~99.99%
分析精度：0.05%
同時分析元素：同時可以分析35種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量最薄至0.005μm
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s~180s
管壓：5KV~50KV
管流：50uA~1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環境溫度: 10~36℃
相對濕度: ≤85%
標準配置
超薄窗大麵積的美國進口SDD探測器
內置信噪比增強器可有效提高機器信號處理能力30倍
可自動切換型準直器和濾光片
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件，與機器硬件相得益彰，且操作簡單。
麵光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安全保護模式
樣品腔尺寸：593（L）x546(W)x606(H)
應用領域
古陶瓷/古青銅器/古首飾/鍍層測厚
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