1）測定范圍低至0.5nm，在單一納米顆粒領域可獲得良好的信噪比和靈敏度。
2）即便樣品中含有少量的粗大粒子對測定也沒有影響，克服瞭以往DLS產品耐污染性差的缺點。
3）IG-1000不使用散射光，因此不受物理參數的限制，不要求輸入折射率作為測量條件。
4）混合粒子的測定成為可能。
5）測定結果與其他顯微表征手段所得結果吻合的非常好。
- 技術參數
IG-1000 測定原理 誘導衍射光柵法 測量范圍 0.5~300μL 測定時間 30秒(從開始測定到得到結果) 測定體積 250~300μL 測定單元 光源 半導體激光(波長785nm,輸出3mW) 測定單元 檢測器 光電二極管 測定單元 檢測池 批式池 輸出端子 串口輸出 工作環境 溫度范圍:15℃~35℃ 工作環境 濕度范圍:20%~80%(不結露) 電源 AC 230V±10%,50/60Hz 尺寸與重量 寬60cm,深40cm,高20cm,重15g PC OS要求 Windows Vista 或Windows XP
- 主要特點
單納米粒子的高靈敏度分析
極高的抗污染能力
良好的重現性
- 機器介紹
IG-1000是單納米粒徑測定裝置，用於測定納米粒子，獲得瞭2009Pittcon大獎。與以往粒度測定機器原理不同，IG方法（Induced Grating method）是島津公司開發的獨一無二的納米粒徑測定技術。IG-1000采用介電電泳原理，介電電泳ON時,形成部分的高(低)粒子濃度；介電電泳OFF時, 粒子擴散恢復為原始狀態；由介電電泳力使粒子構成衍射光柵，擴散後的濃度降低導致衍射光強度降低，從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散系數，進而得到粒子的粒徑。
光源：半導體激光（波長785nm）
測定原理：誘導衍射光柵法
測量范圍：0.5～200nm
測定體積：250~300uL
測定時間：總計30秒
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