產品介紹：
Nicomp380ZLS粒度檢測分析機復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有專利技術的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對於多組分、粒徑分佈不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有獨特優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品無可比擬的。
Nicomp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量，是表征膠體分散系穩定性的重要指標，Zeta電位（正或負）越高，體系越穩定。整機采用模塊化設計，功能擴展靈活方便。獨特的樣品池設計使得進樣方便快捷、用樣量少，無須進行繁瑣的樣品池校準。
動態光散射法(DLS)：有時稱為準彈性光散射法（QELS），是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分佈，使用最新技術，粒度可小於1nm。 動態光散射法的典型應用包括已分散或溶於液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的佈朗運動，造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的佈朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。
電泳光散射法（ELS）與粒子的動電（Zeta）電位：
ELS 是將電泳和光散射結合起來的一種新型光散射。它的光散射理論基礎是 準彈性碰撞理論，隻是在實驗時在式樣槽中多加一個外電場，帶電粒子即以固定 速度向與帶電粒子電性相反的電療方向移動，與之相應的動力光散射光譜產生多普勒漂移，這一漂移正比於帶電粒子的移動速度，因此實驗測得譜線的漂移，就 可以求得帶電粒子的電泳速度，從而求得ζ-電位。
最新的 PALS（Phase Analyze Light Scattering）技術
PSS 於 2004 年推出領先的 PALS 技術，用相位（Phase）變化的分析取代原 先頻譜的漂移，不僅使 Zeta 電位分析的精度及穩定性有瞭顯著的提高，而且突破瞭水相體系的限制，對油、有機物體系同樣能提供 Zeta 電位的分析。
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