商品代碼:3613533

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    PSS 亞微米粒徑電位檢測機 Nicomp 380 DLS
    商品代碼: 3613533
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    商品詳細說明

    Nicomp 380 DLS 采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分佈,粒徑檢測范圍 0.3 nm- 6μm。對數據的分析采用高斯(Gaussian)單峰算法和獨有專利技術的 Nicomp多峰算法,對於多組分、粒徑分佈不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有獨特優勢,其優異的解析度及重現性是其他同類產品無可比擬的。

    測試范圍:0.3 nm – 6μm。

     

     

     

    動態光散射法(DLS),有時稱為準彈性光散射法(QELS),是一種成熟的非侵入技術,可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分佈,使用最新技術,粒度可小於1nm。 動態光散射法的典型應用包括已分散或溶於液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的佈朗運動,造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的佈朗運動速度,再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。



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