Agilent 5975C 系列GC/MSD構建在行業領先、高可靠性和高性能的色譜分析技術堅實的基礎之上，配置三軸HED-EM檢測器，大大增強瞭產品性能，因此顯著地提高瞭分析性能，將您的實驗室的GC分析效率推向新的高度。

高溫整體惰性離子源提升機器的性能

專利的惰性離子源滿足三個基本要求。化學惰性將活性組分和中性化合物的損失降至最低。高溫(350 ?C)有助於高沸點組分的峰形改善，最大程度地降低瞭由於高沸點組分導致的離子源的污染。延伸至四極桿內的新穎設計的透鏡，將優化的傳輸離子聚焦到RF/DC場中，得到業內最佳的信噪比。

頂級標準的四極桿設計和性能

獨特的四極桿具有無與倫比的性能和可靠性。真正雙曲麵石英結構的場誤差最低, 分辨率更高和在任何工作溫度下都具有優異的質量軸穩定。事實上，這個非凡的整體穩定性的石英鍍金四極桿允許200?的溫度，從而保證質量分析器在整個生命周期都保持乾凈狀態。

三軸檢測器

三軸檢測器將從四極桿傳輸過來的離子束在進入到電子倍增器之前轉兩次彎。這個創新的的設計使得離子的捕集效率提高（信號增強）而中性信號被過濾。檢測器采用新型的三通道倍增器，其放大倍數和壽命都有顯著的提升。安捷倫新型的電子倍增器歸一化調諧優化功能保證瞭離子數、線性和電子倍增器壽命三者之間達到瞭最優的平衡。而且歸一化調諧使得在倍增器老化之後還能得到一致的靈敏度以及有利於不同氣質之間的結果比對。

微量離子檢測和第二代的解卷積報告軟件（DRS）對於復雜樣品的痕量組分的分析達到瞭新的水平。

微量離子檢測（TID）從基線，峰和譜圖中過濾掉噪音以提高檢測靈敏度，它可以配或不配解卷積報告軟件（DRS）。對於復雜樣品分析中常見的共流出問題，NIST AMDIS的解卷積計算是氣質分析復雜樣品中痕量組分的終極工具。在解卷積處理之後，“乾凈”的譜圖可以提供更準確的譜庫檢索結果，基於解卷積分析的定量分析結果降低瞭目標離子定量分析結果的誤差。氣相色譜/質譜化學工作站將AMDIS的結果集成於Qedit中以及報告中，所以用戶可以快速比較標準和解卷積分析的結果。利用微量離子檢測和解卷積報告軟件（DRS），方法檢測限（MDL）和定量限（LOQ）更低。假陽性和假陰性率更低，所以結果的可信度大大提高。　

高性能的選擇離子檢測(SIM)和全掃描

同時進行SIM/Scan 的功能能實現在同一次分析采集選擇離子檢測（ＳＩＭ）和全掃描的數據，但是不損失分析靈敏度。選擇離子檢測的離子駐留時間設定范圍一般是100 msec 到1 msec，步進是1 msec。自動選擇離子檢測（ＳＩＭ）可以將全掃描質譜數據自動轉換到選擇離子檢測或SIM/scan的參數中，這樣大大節約瞭分析方法的建立時間。

微板流路控制技術大大提高瞭分析效率，降低瞭成本，提升瞭分析能力

第五代EPC，是惰性、低質量、低死體積的裝置，無泄漏，柱箱內連接，它為提高氣相色譜能力和性能建立瞭各種配置。對於復雜樣品的GC / MS分析中高沸點組分遲流出峰的問題,　反吹是必不可少的工具。更短的分析時間、更少的離子源污染，更常色譜柱壽命為所有的實驗室帶來效益。毛細管分流器和中心切割（Deans switching）提高瞭多檢測器聯用（ＭＳＤ－ＥＣＤ）和中心切割分析方法的可靠性。利用化學工作站控制，這些功能已經成為氣－質聯用分析的常規方法。　

氣相色譜/質譜工作站軟件助您完成日常工作中的每一次分析工作

安捷倫氣相色譜/質譜化學工作站軟件操作簡單，即使不是專傢也能輕松地將Agilent 5975C GC/MSD的功能發揮至極致。先進的功能包括：

• 一個工作站可以控制兩臺氣－質聯用機
• 可以使用多功能進樣器CTC PAL以提高實驗室的分析效率　
• 電子方法（eMethods）使您有效地在多個實驗室之間分享和發佈分析方法或者從安捷倫的專用網站上下載應用方法，從而節省方法開發的時間。　
• 保留時間鎖定（RTL）保證瞭不同機器之間保留時間的重現性，而無需考慮操作者的技術水平，檢測器類型和色譜柱是否維護等。利用安捷倫或用戶自己建立的數據庫，您可以快速準確地掃描未知組分。　　
• 各種模式下（EI, PCI 和 NCI）都可以進行全自動調諧，保證最高的結果準確度
• 半定量分析（SemiQuant）可以計算未校正化合物的濃度
• 與企業內容管理(ECM)配合，用戶能方便地存儲、調用和管理實驗室裡所有的電子數據文件－包括您的氣相色譜/質譜文件和報告and reports.

維護和可靠性特點

模塊化分析機裝置可以讓您方便地接觸到離子源和電子倍增器以便快速地進行機器的日常維護。

前置式玻璃可視窗可使您檢查離子源類型以及連接狀況。

高可靠性的真空系統將長期穩定性發揮到最大；可選擇無油機械泵，這樣可以徹底免去維護，降低噪音，以及在含有氨氣那樣的腐蝕性環境中工作。

所有的5975C氣相色譜/質譜聯用機都配備瞭三軸檢測器:

• 5975C VL MSD — 經濟型，體積小，適合於常規檢測
• 5975C inert MSD — 高性能, 全功能
• 5975C inert XL MSD —高性能, 全功能，適合復雜的樣品分析
• 5975C inert XL EI/CI MSD — 氣相色譜/質譜聯用機的最高水平，是全功能的高性能氣相色譜/質譜聯用機

• 惰性離子源-現在可以程序升溫至 350?C — 增強瞭活性化合物和後洗脫組分的響應。
• 專利設計金石英四極桿增強瞭性能和可靠性，最高1050 u ，單個石英分析器可加熱到200?C ，消除瞭低溫下常見的污染
• 三軸 HED-EM 檢測器具有市場上最好的信噪比 (1 pg OFN, 400:1)
• 新的痕量離子檢測技術和解卷積報告軟件降低瞭復雜基質中的檢測限，提高瞭基線重復性。
• 同步SIM/掃描模式讓您在對感性趣離子進行高靈敏度選擇性監測的同時，獲得可進行譜庫檢索的掃描數據
•  操作成本低，且安全；使用氫氣做載氣，比大多數其它GC/MS系統靈敏度高
•  所有電離模式都在一個自動化序列中；用標準EI離子源進行電子轟擊（EI）電離，AutoCI功能使CI像EI一樣容易
• 新的安捷倫7890A GC、6890 GC，和6850 GC達到瞭完美的互補。
• MSD Productivity 化學工作站和MSD Security 化學工作站軟件符合 FDA 21 CFR Part 11 的要求

如有需求請聯系  客服：022-84901967/1689

                                      QQ：1182057756