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x射線熒光測厚機 產品簡介: 可為電鍍客戶提供更佳的X熒光測量方案，X射線從上向下照射樣品，不同大小形狀的樣品更方便放置及測量。x射線熒光測厚機 的自動操作系統為用戶提供方便可靠的鍍層測厚、鍍液分析、簡單元素分析或貴金屬分析方案。標準配置為20倍彩色CCD系統用於樣品圖象觀察；XYZ三維移動樣品臺；單準直器及多準直器可選，樣品托盤自動彈出功能，激光對焦及定位系統，二次濾光片多種可選方式及封氣式正比計數器。
優特完善的X熒光分析軟件基於基本參數法（FP法）或校正曲線法，確保瞭完美的測量結果。機器易於操作，軟件界麵更具人性化。
| 元素含量 分析指標 | 分析范圍：100PPM-99.99% 準確度：相對誤差5%以內 精密度：相對標準差5%以內 檢出限：100PPM | 測試時間 | 鍍層測厚：10-100秒 元素分析：60-300秒 |
| X光管 | 50W(4-50KV 0 -1.0mA)標配 | 樣品臺 | 簡易手動樣品臺，Z軸升降調節，操作簡單 |
| 探測器 | 正比計數器 | 測試軟件 | 基本參數法 |
| 濾光器 | 二次濾光 | 重量 | 100千克 |
| 準直器 | Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm / Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options | 軟件 | 鍍層測厚軟件，元素分析軟件 |
| 樣品觀察 | CCD高精度彩色攝像頭 | 配套 | 標準液體測量杯 |
| 對焦系統 | 鐳射對焦 | 穩壓系統 | UPS穩壓電源 |
| 測量方向 | 從上向下 | 電腦 | 聯想電腦 |
| 可測元素 | K到U | 打印機 | 彩色噴墨打印機 |
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