離線型ICT電路板測試系統
CheckSum Analyst ems ICT/MDA 測試系統是為所有類型電路板的公開的測試平臺。這個測試系統為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測試提供平臺。
可選擇的上電功能測試非常適合於包含數字內容和較低頻率的模擬電路。
系統可以在不上電的條件下測試整塊電路板和個別元器件。它使用直流或復雜阻抗的測量結合多點隔離等先進的測量技術，能找到大多數的問題，如短路、開路或者錯件等。能在不上電的安全模式下找到主要的錯誤，又能給出具體的故障診斷信息，大大提高瞭維修的效率。
CheckSum 測試系統可以配置 200 到 2000 個測試點。TR-10 測試系統可以加置 CheckSum FUNC-2 功能模塊，用於功能測試。大多數標準配置的測試系統包括用於額外隔離電流和繼電器驅動測試的功能模塊。
產品特點
• 最多 2000 個測試點的 ICT 配置
• TestJet 技術
• 邊界掃描可選擇 Asset, Corelis, Goepel 以及
JTAG 技術
• 在線編程 MultiWriter™ ISP，群體編程
• 全麵整合的 CheckSum 測試系統軟件環境
• 方便融合入工廠數據系統的內置 SPC 測試工具
選擇性 CM-3 校準驗證模塊也可用在 TR-10 系統，以驗證TR-10 模塊的準確性。如果需要打印出的測試報告，也可提供 CheckSum 可選擇的打印機。TR-10 ICT/MDA 測試可檢測出SMT元器件的開路和可選用 Agilent TestJet 技術檢測電容的極性。MultiWriter 在系統編程也可用於適用於此技術的板子。
Analyst ems 系統軟件包括一個測試執行與操作器和編程器接口。這個測試系統軟件集成測試設置、配置、測試開發和數據分析。這一系統軟件很全麵，包括：
• 實時 Pareto 圖形追蹤產品發現並識別問題零件。
• 圖形 X-Bar/Sigma 報告識別進程或零件變化趨勢。
• Panelization Wizard 讓測試系統中多板組件連接到一個單一麵板生成方便。測試窗口顯示一個虛擬的PCB 板，顯示其中的哪些板子通過或失敗。
• 登入能力和密碼保護，可以控制測試站特殊特點訪問。
• 交互式測量窗戶讓測試在幾個小時內生成。
CheckSum 測試系統操作簡單快捷。互動，試算表樣的編程環境可以讓你在線或者遠程編程。一般來說，配置可以在一天之內編程和調試完畢。
測試編程
系統可以手工輸入或者自動轉換的電腦輔助設計數據編程。
當 CAD 數據可用時，你可以讀出凈名單以及零件數據以生成一份夾具的繞線名單，並生成一個基礎的測試程序。這一程序可以大大減小手工輸入的時間和可能產生的錯誤。
系統規格
系統規格
系統規格
電阻測量
直流 2/4/6 電線測量從 0Ω 到 19MΩ，200mV 和 2V 刺激。典型精度為 1% 滿量程 *
也可提供 0 到 10MΩ 的 100Hz 和 1KHz 交流電刺激 *
電感測量
典型精度為 4% 的 1μH 到 1H 的 2/4/6 線圈電感測量 *
典型精度 10% 到 20% 的 1H 到 1000H 的 2 線電感測量 *
100Hz 到 100KHz，最大 200mV 和 2V 刺激的交流電刺激 *
電容測量
典型精度 4%，1pF 到 10μF ，使用 100Hz 到 100KHz 的交流電刺激 *
100μF 到 200mF，使用典型精度 10% 到 20% 的直流電 *
低值電容測量可用系統/夾具殘餘電容補償 * 。
電容極性
SMT-2** 模塊還能被用於測量軸向和SMT封裝中被用於鋁質和鉭質電容（最高大約 200μF）的極性。使用expansion SMT**模塊可以測高達384個零件。
隔離能力
測試系統提供隔離，以盡量減小並聯阻抗的影響。如果沒有特殊佈線的話，任何測試點都能被當做是測量點、隔離點或外部監測點。任何點都可以被隔離(與選定刪除)，或者最多6個隔離點可以同時使用。每個測量或隔離點都能被外部感應。
隔離對每個隔離點使用一個單獨的隔離放大器以達到絕對精確的隔離。當隔離電流超過 15mA 時，使用PWR- 2**模塊作為電源，且測試點必須繞上PWR-2**16 個繼電器測試點。
隔離 *
每個測試點的最大電流: 10mA
同時可提供隔離點的最大數目: 6個或隔離所 有未 被選擇的點
最大隔離總電流 (TR-10): 20mA
最大隔離總電流 (PWR-2**): 120mA
電壓測量
二極管和穩壓二極管測量
標準二極管、發光二極管和穩壓二極管會通過在陽極和陰極加一個恒定電流然後測l量由此產生的電壓（正向壓降）。可使用最高 100 mA 應用電流最高 50V 電壓。
二極管測試
Ifwd @ 1mA & 10mA 可測 +/-2% F.S. 精度的 VFwd *
穩壓二極管測試
穩壓擊穿電壓 (Vz):
Vz 0到20V擊穿電壓，10mA，3% F.S. 精度 *
Vz PWR-2** 模塊10mA，50V擊穿電壓
Vz PWR-2** 模塊100mA，0到12V擊穿電壓
直流電壓測量
量程 精度
± 0.2V 4mV
± 2.0V 40mV
± 10 V 200mV
范圍為兩極。刺激可由控制器底盤地麵浮動± 8V
開路、短路測量
連接/開路閾值： 2 - 50 KΩ 單獨編程
400 個測試點一般用時： 1 - 2秒 *
( 測試時間取決於電路的佈局 )
低門限值的連續性（額定轉速）
量程 | 門限值 |
1mA | 2Ω 到 50Ω |
向量測試技術
IC的方向與存在量測
可以通過檢測在 IC 引腳和UUT電源之間的保護二極管的半導體結點來驗證 IC 的存在和方向。系統使用專有算法對這些IC圖自學產生一個圖以及針對該圖進行相關的測試。該圖可以根據具體測試規格進行手動編輯和設定免照看。
恒流電流范圍 | 門限值 |
0.1mA/1mA | 0 到 2V |
1mA/10mA | 0 到 2V |
TestJet 技術
該系統可區別同一網絡上的相同的IC上的最多三個引腳。每個SMT-2**模塊最多可以測量24個一般或電容探頭。使用SMT-2-EXP**模塊，最多可以測試384個零件。
測量范圍 | 分辨率 |
0 fF 到 300 fF | 2 fF |
20 fF 到 3000 fF | 20 fF |
Teslet Sensor Probe
光電隔離器的測試
光電隔離器的測試
晶體管測試
偏置控制終端的同時，如在另一個測試點使用電壓或電流，則可在兩個電源端口(如集電療和發射極)測3個終端裝置(NPN, PNP, N-FET和 P-FET)。這樣可以有效地測試操作，或在大多數情況下測試 FETs, SCRs 和晶體管器件等設備的極性。
二極管驅動器 | 測量激勵 | 測量門限值 |
0mA 到 10mA | 1mA | 0 到 2V |
第三端驅動 | 測量激勵 | 測量門限值 |
0mA 到 +1mA | 1mA | 0 到 +2V |
–10V 到 +10V | 1mA | 0 到 +2V |
0mA 到 –1mA | –1mA | 0 到 –2V |
+10V 到 –10V | –1mA | 0 到 –2V |
電壓源
低電源
振幅 80mV 時 –10V 到 +10V
精度 3% ±80mV
測試點源電阻 < 1KΩ
源自 TR-10
電源
振幅 6mV 時 –12V 到 +12V
精度 無電流限制時 3% ±6mV
測試點源電阻 < 4Ω
源自 PWR-2**
電流測試精度 10% ±5mA
電壓測試精度 電流限制時10% ±0.3V
可用信號 16 個繼電器測試點
源自 PWR-2**
電源
專用電源輸出
PS-UUT-L1** 精度: | 可編程 0 到 60V 直流電壓，最多 12A，遙感，輸出能控制 4 位 0.5% 的額定電壓/電流 + 1 計數 |
PWR-2** | 12V @ 1A, 5V @ 1A, –12V @ 0.1A 融合和交換 |
DIG-1** | 5V @ 1A 融合和交換 |
非專用繼電器
PWR-2** | 4 SPDT, 1A relays, 的繼電器， 小於 2Ω 的導線電阻 |
恒定電流源
低電源
量程 | 分辨率 | 精度 |
–1mA 到 1mA | 4μA | 3% ±4μA |
–10mA 到 10mA | 40μA | 3% ±40μA |
源自 TR-10 | ||
高電源
固定電流 | 100mA ±5% |
恒流輸出電壓 | > 8V |
源自 PWR-2** | |
數字I/O能力
可用 96 個專用測試點（每個 DIG-1** 模塊提供 48 個）。當不使用時，這些測試點被繼電器隔離。它們可和通用測試點平行繞線。
數位 | 48 個獨立輸入或輸出 |
邏輯電平 | 可選3.3V 或 5V, TTL/CMOS兼容 |
輸出灌電流 | 3.3V 時 10mA, 5V 時 24mA |
輸出源電流 | 3mA |
輸入負荷 | 通過 10KΩ 上拉電阻上拉至 3.3V 或 5V |
源自 DIG-1**
高電流數字I/O
提供數字能力，讓你能低速數字音頻輸入和輸出測試 UUT 功能。數字 I/O 能力還能用於驅動繼電器或發送和接收數字信號以及開關關閉控制測試流程。
使用外部資源時，開集電療輸出可以直接控制最大 100mA 的外部繼電器。數字輸出可以浮動，或跳線連接在 +5V 或 +12V。 8 位的狀態可以由系統讀取回。
數位 | PWR-2** 上 8 位 |
方向 | 輸出回讀 |
邏輯顯示器 | 5V TTL/LS/CMOS |
輸出 | 開路集電療上拉 |
分佈 | 後麵板接口連接器和夾具 |
漏/源 | 漏電流 100mA. 源極電流可根據上拉電阻而設定。 |
拉 | 10KΩ 嵌上拉至 +5V 和 +12V |
源自 PWR-2**
MultiWriter™ ISP **
MultiWriter 是第一個為流行的串行總線編程協議（閃存和微控制器）設計的基於 ICT 的剛編程系統。MultiWriter 解決瞭現在的多板麵板和大型的無數據 ISP 芯片產生的生產瓶頸。MultiWriter 可用 data-book 速度同時編程最多 384 個芯片。可提供全麵的串行閃存和微控制器目錄。
內置軟件工具
• 計算機輔助翻譯
• SPC 報告和分析
• 連接到 C++, LabView, LabWindows CVI 等的外部程序
• 夾具 ID 檢驗
• 引腳接口檢查
• 系統自測和診斷
功能測試
FUNC-2** 模塊提供:
• 0到 250VRMS 的 DCV, ACV 的 DMM（數字萬用表） 測量
• 0.075Hz 到 10MHz 頻率 , 12.8μS 到 128Sec 周期內的計數器/定時器測量
• 函數發生器可以產生 DC–50KHz 的頻率，精讀可以達到 1Hz，振幅在 DC–10Vp-p 峰峰值之間。
操作環境
測試系統操作溫度從 0° C 到 +35° C，0 到 80% 相對濕度（無凝結）。額定精度為校準溫度 ±10° C。最大操作高度為 3000m。
PDU-10 系統 (壓力，控制器和 PC)
壓力:
最大 PCBA UUT 大小: 450 mm x 380 mm
最大力：4000 N, 最多 2000 (2 N / 204 gm) 個探針
壓強: 5 – 6 kg/cm2
氣壓: 3 到 6 bar
PDU 大小: 600 mm (W) x 450 mm (D) x 900 mm (H)
PDU 重量: 75 kg
系統:
AC 電源: 200 – 240 VAC / 100 – 120 VAC, 50/60 Hz, 1 KVA
系統重量: 115 kg
額外可選擇測試能力
• GPIB/IEEE-488
• MultiWriter™ ISP
• LED 顏色/強度測試
• 開關激活/測試
• PCBA 標記
• 通電功能測試
• IEEE 1149.1 邊界掃描
• I2C, CANBus 測試
• 圖形化無紙修復
新手教學
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