KDY-1A 便攜式四探針電阻率測試機
1、符合半導體材料電阻率的國際及國傢標準測試方法。
2、測量厚度大於4倍探針間距的矽晶體，也可測量薄矽片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復蓋最常用的區段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加電阻率小於0.5Ω·cm的報警功能）
方塊電阻測量范圍復蓋最常用的區段：0.1—1999Ω/□。（可添加方塊電阻小於5Ω/□的報警功能）
4、配置高精度恒流源，測量電流穩定，分兩檔：1mA、10mA，每檔均可在大范圍內調節（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、測量精度高：電器測量精度優於0.3%；
整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標準矽片誤差≤±3%。
測量大於100Ω·cm和小於1Ω·cm的標準矽片誤差≤±5%。
6、重量輕，約2.5kg；體積小：240×210×100（mm）。
7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm
測試臺另收費
新手教學
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