產品簡介：

      X-Strata980結合瞭大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試麵積

的檢測需求。這款機器的電制冷固態探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，

能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，

幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系

數法、基本參數法或兩者結合。這款機器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別

出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙

門使樣品更易放入。

應用:

--RoHS/WEEE

--有害元素痕量分析

--焊料合金成分分析和鍍層厚度測量

--電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量

--五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量

--貴金屬合金分析和牌號鑒定

產品特點:

--100瓦X射線管

--25mm2PIN探測器

--多準直器配置

--掃描分析及元素分佈成像功能

--靈活運用多種分析模型

--清晰顯示樣品合格/不合格

--超大樣品艙

--同時分析元素含量和鍍層厚度

技術參數:

--元素范圍:S(16) to U(92)

--可測鍍層層數:5層(4層+底材),可同時分析25種元素成份

--X射線管功率:100W (50kV and 2mA)微焦點鎢靶X射線管

--探測器:25mm2 PIN電制冷固態探測器

--濾波器/準直器:最多可包含5個初級濾波器和4個準直器規格(0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø)

--數字脈沖處理器:4096多道數據分析功能;自動數據處理,包括死時間修正

--電腦/顯示器/系統軟件

  Celeron, 1.86 GHz,  40 GbHD, 512Mb RAM,相同或更高配置

  15”LCD, 1024 x 768

  MicrosoftTM XP SP2

--攝像系統:1/2”CMOS-640480 VGA resolution

--電源:85~130V or 215~265 V,頻率47Hz to 63Hz

--工作環境: 10－40℃、相對濕度小於98%，無冷凝水

--XYZ軸行程:  203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”)

--最大樣品尺寸

  305 x 390 mm (12 x 15.4”)，樣品高度為  50mm (2”)

  305 x 352 mm (12 x 13.9”)，樣品高度為203mm (8”)

--艙室尺寸:   (W x D x H):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”)

--外型尺寸

 高765mm (30.1”)

 寬700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended

 深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended

--重量: 135 kg

新手教學

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