一、性能： 加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。 用於調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數呈什麼樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加瞭許多。為瞭提高試驗效率、減少試驗時間，采用瞭最新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。 註意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗) 二、適用行業： 廣泛應用於半導體，多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 規格/SPEC： 型 號 PCT - 25 PCT - 35 PCT - 45 PCT - 65 內部尺寸(W×H×D)mm Φ250×300 Φ300×450 Φ450×500 Φ650×600 外箱尺寸(W×H×D)mm 500×500×700 580×850×650 800×750×900 950×900×1100 使用溫度 121℃；132℃；(143℃特殊選用) 使用濕度 100％RH飽和蒸氣濕度 使用蒸氣壓力(絕對壓力) 1個環境大氣壓 +0.0Kg／cm2- 2.0Kg／cm2；(3.0Kg／cm2屬於特殊規格) 循環方式 水蒸氣自然對流循環 安全保護裝置 缺水保護，超壓保護、 (具有自動／手動補水功能，自動瀉壓功能) 配 件 不銹鋼隔板兩層 電 源 AC220V，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz 1.1 設定溫度: +100 ℃ ～ +135 ℃ ( 飽和蒸氣溫度 ) 1.2 濕度范圍: 75~100 % 飽和蒸氣濕度0Kg ～ 3.5 Kg / cm2 ( 內桶設計耐壓 4 Kg / cm2 ) 1.3 時間范圍: 000 Hr ～ 999 Hr 1.4 加壓時間: 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 約 45 1.5 測試條件: 溫度121℃,100%RH飽和蒸氣,壓力1.04 Kg/c㎡ 結構 2.1 試驗箱尺寸: 直徑30cmx 深度50 cm /直徑35cmx 深度50 cm ,圓型試驗室 2.2 全機外尺寸（請以實際尺寸為準）:900x 800 x 900 cm ( W * D * H ) 2.3 內桶材質: 不銹鋼板材質 # SUS-316 制 2.4 外桶材質: 不銹鋼板材質 # SUS-304 制 2.5 控制系統 a.采用觸控式控制器,控制試驗室濕度,溫度,時間 b.采用指針顯示壓力表.(可選購數顯式) c.微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度. c.手動/自動入水閥. 2.6 機械結構: a.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計. b.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品. c.精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 500Hrs 運轉. d.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計, 內有大於常壓時測試門會被反壓保護. 專利型packing設計使門與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命. f.臨界點 LIMIT 方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示 其它附屬配件 3.1 測試置架 3.2 樣品盤 3.3 蒸氣擋片1 3.4 污染清潔劑 2 包. 3.5 OPTION選購配件: a.壓力信號傳輸器 驗數據記錄器 系統： 4.1 系統電源波動不得大於±1 4.2 電源:單相 220V 20A 50/60H 環境&設施: 5.1 可容許使用工作環境溫度5℃~30℃ 5.2 實驗用水:純水 附配文件: 1.系統全新保證書,保固書 2 操作保養手冊
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