產品型號：x-5000
產品詳情：
X-5600是一種體現X射線熒光分析技術最新進展的能量色散X射線熒光光譜機。它采用低功率小型X光管為激發源，電制冷矽半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證瞭整臺機器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。下麵將該機器的資料作簡單介紹。
整機技術規格：
激發源：本機采用低功率 X 射線管（Mo靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA
高壓電源：最大50W，50KV，1mA
探測器：電制冷 Si PIN半導體探測器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優於149eV）
多道分析器：2048道
軟件：基於WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括：經驗系數法，理論a系數法和基本參數法。定性分析包括：KL線標記，譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法。
電源：交流220V 50Hz
體積：520mm x 600mm x 270mm
重量：約 42kg (主機)
整機技術性能：
測量元素范圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測量
測量含量范圍，從ppm至100%
測量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘
多元素同時定性定量
蜂位漂移：八小時小於1%
進口探測器的性能指標：
探測器類型：電制冷Si-PIN
探測麵積：2.4x2.8mm（7mm2）
矽活化區厚度：300um
探測器分辨率：對於55Fe，@5.9keV 對於12us的形成時間，半高寬為149Ev
探測器窗口：鈹窗，25um厚
進口高壓電源規格：
電壓和電流從零至滿量程連續可調，最大50KV，1mA
電壓調整率：負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調整率：對於規定的輸入電壓范圍，該數值為滿量程的0.01%
電流調整率：負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
線性調整率：對於規定的輸入電流范圍，該數值為滿量程的0.01%
穩定性：經過半小時預熱後，每8小時變化不超0.05%
溫度系數：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%
詳細參數：
定量測量范圍：Pb，Hg，Cr，Cd，Br
測量精度：低於100ppm時精確度15ppm，大於100ppm時，精確度15%
分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br
檢出限： Pb：3.2 mg/kg (ppm)
Hg：3.2 mg/kg (ppm)
Cr：4.1 mg/kg (ppm)
Cd：5.8 mg/kg (ppm)
Br：3.1 mg/kg (ppm)
測量時間：30秒——120秒可選
X射線源：X光管
工作環境溫度：10℃——45℃
工作環境濕度：20%——80%
高壓器：50Kv
操作系統：windows XP
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