產品特點
1. 采用國際最先進的美國原裝進口SDD(SILICON DRIFT DETECTOR)矽漂移探測器,分辨率更高, 大大提高瞭輕元素的檢出限,標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍;測量范圍更寬,基本涵蓋瞭各種常規材料元素分析要求;
2. 配置美國原裝進口數據集成處理系統,數據采集速度更快,測量更穩定,重復性和長期穩定性更好;
3. 配置最新開發的專用測量軟件,集成多種圖形計算方法,測量數據更精準,更穩定;
4. 軟件全麵監控機器主要核心部件運行狀態,使用更安全;
5. 配置專門開發的真空系統,真空性能更好,測試效果更佳;
技術參數:
1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
2.. 元素含量分析范圍為1ppm到99.99%
3. 最低檢出限:1ppm
4. 測量時間:60-200秒(可調)
5. 機器工作電源:AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管最大輸出電流:1mA
8. 極限壓力:6.7×10-2 Pa
9.樣品腔尺寸:610*320*100(mm)(不抽真空)/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)
10.多次測量重復性(以標準樣品為準):±0.05%(高含量)/±0.002%(微量)
11.長期工作穩定性(以標準樣品為準)±:0.06% (高含量)/±0.0025%(微量)
新手教學
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