| X-5000 ROHS檢測機 |
| 產品型號：x-5000 |
| 產品詳情： X-5000是一種體現X射線熒光分析技術最新進展的能量色散X射線熒光光譜機。它采用低功率小型X光管為激發源，電制冷矽半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證瞭整臺機器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。下麵將該機器的資料作簡單介紹。 整機技術規格： 激發源：本機采用低功率 X 射線管（Mo靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA 高壓電源：最大50W，50KV，1mA 探測器：電制冷 Si PIN半導體探測器（55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優於149eV） 多道分析器：2048道 軟件：基於WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括：經驗系數法，理論a系數法和基本參數法。定性分析包括：KL線標記，譜圖比較和光標尋峰等。客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法。 電源：交流220V 50Hz 體積：520mm x 600mm x 270mm 重量：約 42kg (主機) 整機技術性能： 測量元素范圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測量 測量含量范圍，從ppm至100% 測量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘 多元素同時定性定量 蜂位漂移：八小時小於1% 進口探測器的性能指標： 探測器類型：電制冷Si-PIN 探測麵積：2.4x2.8mm（7mm2） 矽活化區厚度：300um 探測器分辨率：對於55Fe，@5.9keV 對於12us的形成時間，半高寬為149Ev 探測器窗口：鈹窗，25um厚 進口高壓電源規格： 電壓和電流從零至滿量程連續可調，最大50KV，1mA 電壓調整率：負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程的 0.01 % 線性調整率：對於規定的輸入電壓范圍，該數值為滿量程的0.01% 電流調整率：負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01% 線性調整率：對於規定的輸入電流范圍，該數值為滿量程的0.01% 穩定性：經過半小時預熱後，每8小時變化不超0.05% 溫度系數：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01% 詳細參數： 定量測量范圍：Pb，Hg，Cr，Cd，Br 測量精度：低於100ppm時精確度15ppm，大於100ppm時，精確度15% 分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br 檢出限： Pb：3.2 mg/kg (ppm) Hg：3.2 mg/kg (ppm) Cr：4.1 mg/kg (ppm) Cd：5.8 mg/kg (ppm) Br：3.1 mg/kg (ppm) 測量時間：30秒——120秒可選 X射線源：X光管 工作環境溫度：10℃——45℃ 工作環境濕度：20%——80% 高壓器：50Kv 操作系統：windows XP |
由國傢首飾標準化技術委員會申報，國傢標準化管理委員會2008年12月31日批準的GB/T 18043-2008、GB 11887-2008、GB/T 17832-2008掃描電子版郵件。該2個推薦性執行標準將於2009年7月1日在全國執行；1個強制性執行標準將於2009年11月1日在全國執行。
本公司研發生產的上述能量色散熒光光譜機完全能滿足上述3個標準要求，精確測試各種貴金屬內所有雜質元素。
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