| 金屬鍍層測厚機；熒光X線膜厚計；熒光膜厚計；韓國鍍層測厚機；熒光X線鍍層測厚機 | ||||
| 產品型號： | XRF-2000 | |||
| 產品簡介： | ||||
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| 主要技術參數： | ||||
| 可測元素范圍： | ||||
| 鈦(Ti) – 鈾(U) | ||||
| 可測量厚度范圍： | ||||
| 原子序 22-25，0.1-0.8μm | ||||
| 26-40，0.05-35μm | ||||
| 43-52，0.1-100μm | ||||
| 72-82，0.05-5μm | ||||
| X-射線管：油冷,超微細對焦 | ||||
| 高壓：0-50KV(程控) | ||||
| 準直器： | ||||
| 固定種類大小：可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm | ||||
| 自動種類大小：可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm | ||||
| 電腦系統：IBM相容,17”顯示器 | ||||
| 綜合性能：鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 | ||||
| 鍍層分析：可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. | ||||
| 鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液. | ||||
| 定性定量分析：可定性分析20多種金屬元素,並可定量分析成分含量. | ||||
| 光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. | ||||
| 統計功能：能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質. | ||||
新手教學
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