上海光學中恒機器　光切法顯微鏡9J 光潔度刻線劃痕測量_光學計量標準器具_計量標準器具_儀器、儀表_貨源

用途：

　　光切法顯微鏡9J是以光切法測量零件加工表麵的微觀不平度。其能判別國傢標準GB1031-1995所規定測量范圍1.0～80微米即原標準▽3～▽9級表麵光潔度。對於表麵劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
　　光切法特點是在不破壞表麵的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算後才能確定紋痕的不平度。

規格：

測量范圍不平度平均高度值（μm）	表麵光潔度級別	所需物鏡	總放大倍數	物鏡組件工作距離（mm）	視場（mm）
＞0.8～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80	9 8～7 6～5 4～3	60×N.A.0.55 30×N.A.0.40 14×N.A.0.20 7×N.A.0.12	510× 260× 120× 60×	0.04 0.2 2.5 9.5	0.3 0.6 1.3 2.5

測量不平度范圍： 0.8～80 μm
不平寬度用測微目鏡： 0.7μm～2.5 mm
　　　　用坐標工作臺： 0.01～13 mm
機器重量：約23 ㎏
外形尺寸：約180×290×470 mm

機器成套性：

⑴機器主體	⑵測微目鏡	⑶坐標工作臺	⑷V 型塊
⑸標準刻尺	⑹7×物鏡	⑺14×物鏡	⑻30×物鏡
⑼60×物鏡	⑽2.1W6V燈泡	⑾可調變壓器220/4～6/5VA

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