商品代碼:3282698

  • 供應美國ZMIKE激光測徑機
    商品代碼: 3282698
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    商品詳細說明

    產品特征簡要說明(Introduction):

     

    高質量的測量是測量機表、測量方法及測試人員有機配合的整體。與傳統的接觸式外形幾何尺寸測量機表比較,BenchMike中采用瞭激光非接觸測量原理。對原始測量數據自動采集、處理,數字顯示等技術,降低瞭由於測量方法及測量人員造成的誤差。從而提高瞭整個測量的精度。在某些工業應用場合中,如產品出廠檢驗中,單位時間內需完成大量的測量。此時,在兼顧測量精度的同時,對測量速度提出瞭更高的要求。BenchMike提供瞭高速DSP核心處理單元,友好界麵的顯示控制軟件及多種接口用於數據及通訊,將使用者從繁重的測量中解放出來。
    總之,BenchMike不僅是一測量中心,還是一測量數據處理中心,也是一測量數據交換中心。其具備的強大功能保證瞭其可應用於廣泛的領域,同時也使測量更加簡單。特別需要指出的是對於一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統接觸測量束手無策的被測量任務,BenchMike可提供滿意的測量。
    ■主要特點:
    ◆測量精度高,測量速度快。使本機表可滿足不同測量應用領域。
    ◆豐富的測量模式滿足不同的測量應用。
    ◆采用瞭全新數據處理技術,圖形用戶交互(GUI)界麵、快捷按鍵的使用使測量更直觀,操作更便利。
    ◆內含測量應用庫及自編輯被測量功能,配合專門設計的夾具及多種輸入/出口,使機表具備良好的測量擴充能力。
    ◆單點及雙點自校準功能減少瞭使用條件的變化對測量的影響,使機表維護更方便。
    ■典型測量功能:
    配合測量夾具,本機表可對下列被測量進行直接測量,自動完成測量數據的采集、處理、通訊、功能。另用戶可基於這些測量功能設計更多的測量方案等等

     

    測量原理:

     

    采用激光掃描原理進行測量,激光發生裝置產生的激光,照射在馬達驅動的高速旋轉棱鏡上,通過發射透鏡組在測試區間中形成標準掃描平行光束,測試區間中的被測量物體遮擋光束形成的陰影,會在光電收集端形成信號的階躍,階躍寬度及位置決定瞭被測量物體的直徑及在測試區間位置等參數

     

    技術參數:

     

    型號283-10283-20
    測量范圍0.075-25.4mm(0.003-1.0in)0.625-50mm(0.025-2.0in)
    復現性誤差0.25µm(0.000010in)0.5µm(0.000020in)
    線性誤差±0.9µm(±0.000036in)±1.5µm(±0.000060in)
    測試區間范圍±0.75*25mm(±0.030*1.0in)±1.5*50mm(±0.060*2.0in)
    掃描光尺寸125µm(0.005in)250µm(0.010in)
    掃描光速率50m/sec(2000in/sec)100m/sec(4000in/sec)


    新手教學
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