CheckSum集成電路測試系統應用於集成電路設計與組裝公司用來檢測集成電路的電氣缺陷，如開短路、電阻、電容及二極管的電壓。

概述：

該測試系統是測試IC的一個低成本解決方案。具有占用空間小和低能耗的特點，可用於實驗室及凈化室。

系統可以配置廣泛的通道，典型配置可達1000個通道，配置齊全可達8000個通道，系統可以設置測試多個站點設備，所有的測試結果保存到內置的SPC軟件進行分析。

模塊化的架構使得可以從桌麵測試和調試與實時分析工具對大容量、多站點生產在同一測試系統。機械基礎架構可以很容易地擴展來滿足您的未來需求。該系統可控制一個處理程序來自動改變零件和測試而不需要人為操作。

系統提供所有這些功能所占空間不到一平方米，相比之下，傳統的ATE提供這些功能所占的空間是該系統的4-6倍，該系統采用風冷系統，最大限度降低對空調的要求。

系統采用標準的windows電腦控制測量子系統，可以由負載板或者其它接口裝置連接到被測裝置。

IC座測試

系統高數量的PIN腳測試能力，重復性高，四線低阻測試以及自動學習功能，非常適合IC座的開路及連通性能測試。

老化板

系統高數量的PIN腳測試能力，高重復性和可靠性，復雜的阻抗測量和多通道監視加上自動學習功能，使得其適合測試包括老化板在內的各種類型的板。

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