光學結構

反射 :d/8;SCI (鏡麵光包含 )/SCE ( 鏡麵光不包含 ) 可切換 ;

d/8光學結構符合 ISO 和 DIN 標準 ;

d/0之光學結構也符合 CIE 和 ASTM 標準穿透 :d/0.

偵測器

矽光電二極管（ 40 對組件）

測量波長范圍

360到 740nm 每間隔 10nm

精確度

反射率從 0 到 200% Resolution: 0.01%

光源

脈沖氙弧燈（× 4 ）

測量時間

大約 1.5 秒 .

測量間隔時間

4秒，當測量 SCI/SCE 時

UV光調整 / 過濾

瞬時數字化UV調整和 400nm&420nm 截斷

穿透測量之樣品

薄片 , 色板 , 或 液體 ( 裝在容器中 ) 最大厚度不超過 50mm

再現性

光譜反射率 :標準偏差 ≦ 0.1%

色差值 :標準偏差Δ E*ab ≦ 0.02

(測量條件 : 執行校正後測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒 )

機臺交換性 (LAV)

平均Δ E*ab 0.15 基於 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機臺比較 .

溫度影響

光譜反射率 :≦± 0.10%/ ℃色差值 :Δ E*ab≦ 0.05/ ℃

通訊接口

RS-232C

電源

AC 120V/230V 50/60Hz

操作溫度 / 濕度范圍

13 to 33 ℃ ;低於 80% 相對濕度 (at 33 ℃ 無冷凝 )

儲存溫度 / 濕度范圍

0 to 40 ℃ ;低於 80% 相對濕度 (at 33 ℃ 無冷凝 )

體積 (W × H × D)

244 × 208 × 378mm（ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ）

重量

12kg (26-7/16 lb.)

標準配置

校正白板 CM-A103; 目標罩 ( ψ 4mm)CM-A107; 目標罩 ( ψ 8mm)CM-A106 ；目標罩 ( ψ 25.4mm) CM-A105; 零點校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 CM-A52

防塵罩； Unit Driver 軟盤