配置及基本參數：

l高靈敏電製冷AMPTEK-X123型Si-PIN探測器(美國產)／探測面積：5-25mm2／分辨率：149eV

l美國spellman公司生產專用電源／輸入電壓: +24v DC，精度偏差±5%

l美國牛津公司生產X螢光分析儀專用光管燈絲電壓: 2.2V對應50 kV/1mA

l攝像定位系統：30萬像素／800×600分辨率／32位真彩

l特殊材質的X射線濾光片

l專為不同測試樣件設計的專用準直器

lMLSQ-FP分析軟件模塊(集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析)

l採用多道脈衝分析器

l美國原裝進口初始化標樣

l開蓋感應與警示燈響應防輻射裝置／專業級防輻射12MM厚合金鋁板外殼

l計算機及噴墨打印機

l樣品腔尺寸：320×330×80mm可實現超大樣品的測試

l外形尺寸：400×350×450mm

儀器性能／技術指標：

l測定元素原子編號11（Na）~92(U)

l一次可同時分析樣品中25個金屬的含量極成分

l測試樣品形態：固體，粉末，液體，濾渣，鍍層及其他

l元素含量分析範圍為1 PPm到99.99%

l多次測量重複性可達0.1%

l長期工作穩定性為0.1%

l檢測時間100-120秒

l樣品觀察：高清晰CCD攝像頭可實現準確定位微小物體測量及產品拍照功能

l可以對銅、鋅、鐵、不銹鋼等任意基體的金屬做成分分析

l系統支持化合物換算，即通過金屬元素的分析可以換算出該金屬在物體裡相應化合物的比例

l定性分析功能／定量分析功能

l自動辨別，圖譜比對

l統計處理功能／報告製作功能

工作環境要求：

l工作溫度：15-30℃

l相對濕度：≤65%

l電源：AC220V，200W（建議使用者配UPS穩壓器

儀器優勢：

l獨特的MLSQ-FP分析軟件模塊可以內置無限多標樣數據，極大的提高了測試精度和測試範圍

l軟件支持無標樣分析，無標樣條件下誤差小於1%，可任意進行定性定量分析，使用靈活，是目前市場上最好的軟件插件

l集ROHS有害元素分析、金屬元素分析、電鍍層厚度分析、全元素分析於一體的測試軟件

l光譜和分析界面分離，便於專業人員與非專業人員同時使用

l軟件可視頻觀察樣品的放置

l同時可顯示25種元素分析元素結果

l儀器初始化、校準方便快捷

l具有多種光譜擬合分析處理技術（是檢出精度保證的領先技術）

1）Smooth(波峰光滑處理)

2）Pickup Removal(拾取峰去除)

3）Escape peak(逃逸峰處理)

4) Background Removed(背景去處)

5) Blank Subtraction(空白峰位去除)

6) Compton Peak(康普頓波峰處理)

7) Deconvolute(去捲積積分處理)

S＆S-EDX-900 X螢光光譜儀應用領域：

1、電子信息產品污染控制管理辦法
2、WEEE&RoHS及ELV指令
3、玩具中有害重金屬的檢測
4、無鉛焊錫分析
5、無鹵化分析

6、金屬冶煉、工廠製造全元素分析，

7、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量

8、營養添加劑,各種油品成份分析等

9、氣溶膠顆粒濾膜，刑偵以及痕量分析

10、土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等

新手教學

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