表麵粗糙度測量機 SV-3100 系列產品可進行
高精度、高水平分析和多功能粗糙度測量。
多種型號可滿足不同測量需求
SV-3100S4
測量范圍: 100mm
垂直移動: 300mm
基座尺寸 (W x D): 600 x 450mm
基座材料: 花崗巖
SV-3100S8
測量范圍: 200mm
垂直移動: 300mm
基座尺寸 (W x D): 600 x 450mm
基座材料: 花崗巖
SV-3100H4
測量范圍: 100mm
垂直移動: 500mm
基座尺寸 (W x D): 600 x 450mm
基座材料: 花崗巖
SV-3100H8
測量范圍: 200mm
垂直移動: 500mm
基座尺寸 (W x D): 600 x 450mm
基座材料: 花崗巖
SV-3100W4
測量范圍: 100mm
垂直移動: 500mm
基座尺寸 (W x D): 1000 x 450mm
基座材料: 花崗巖
SV-3100W8
測量范圍: 200mm
垂直移動: 500mm
基座尺寸 (W x D): 1000 x 450mm
基座材料: 花崗巖

產品特點
? 三豐表麵粗糙度測量機SV-3100 系列產品
可進行高精度、高水平分析，多功能3D
表麵粗糙度分析，微細輪廓測量，以及
原有的表麵粗糙度測量。
? 自動調水平工作臺、3 軸調整臺等外部設
備的應用，有效增強瞭該產品的操作性
能，同時也真正實現瞭自動測量。
? 安裝瞭專業資料分析軟件SURFPAK-SV 使用
這一軟件，可對從車間和實驗室中得到
的資料進行統一格式的管理。
? 采用陶瓷制作的 X 軸驅動部導軌，因為陶
瓷具有極好的防磨損性能。無需潤滑油
也能正常工作。
? 為瞭保證高精度測量，在 X 軸 和Y 軸(選件)
上都內置瞭高清晰度的玻璃尺(X 軸分辨
率：0.05μm, Y 軸分辨率：1μm) 因為要保證
SV-3100 系列產品具有高度的可靠性，特
別是對於水平粗糙度參數(S, Sm), X 軸的分
辨率就必須達到相當的水平。
? 配有高精度測針。? 配有多種功能，如“直線度補償功能” ，
可確保X 軸的線性精度；“圓度補償功
能”，可保證測針的垂直移動；以及“針
尖半徑補償功能”等。
? 測針和測針導頭都可輕松替換。可選測
針和滑軌可適應各種粗糙度測量的需要，
如小孔測量、深孔測量等。
? 在各種型號中，還提供瞭易於操作的控制
箱。控制箱與主機分離，可遙控執行定位、
開始／停止測量、返回以及遠程進行其
他操作。驅動部的上／下位置和X 軸的移
動都可手動進行微調。
技術參數
X 軸
　測量范圍: 100mm 或 200mm
　分辨率: 0.05μm
　檢測方法: 線性編碼器
　驅動速度: 0 - 80mm/s
　測量速度: 0.02 - 5mm/s
　 移動方向: 向後
　直線度: (0.05+1L/1000)μm*
(0.5μm/200mm: 測量范圍為200mm的型號)
　傾角范圍: ±45o
Z2 軸 (立柱)
　垂直移動: 300mm 或 500mm、動力驅動
　分辨率: 1μm
　檢測方法: ABSOLUTE 線性編碼器
　驅動速度: 0 - 20mm/s
檢測器
　范圍／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm (使用測頭選件
時，最大可達2400μm)
　檢測方法: 無軌／有軌測量
　測力: 4mN 或 0.75mN (低測力型)
　測針針尖: 金剛石、90o / 5μmR
(60o / 2μmR: 低測力型)
　導頭曲率半徑: 40mm
　檢測方法: 差動電感式
基座尺寸 (W x H): 600 x 450mm 或 1000 x 450mm
基座材料: 花崗巖
尺寸 (W x D x H): 756 x 482 x 966mm (S4 型)
756 x 482 x 1166mm (H4 型)
1156 x 482 x 1176mm (W4 型)
766 x 482 x 966mm (S8 型)
766 x 482 x 1166mm (H8 型)
1166 x 482 x 1176mm (W8 型)
重量 140kg (S4, S8 型)
150kg (H4, H8 型)
220kg (W4, W8 型)
*L 為驅動長度 (mm)
評估能力: SURFPAK-SV
評估輪廓
　P (主輪廓), R (表麵粗糙度輪廓), WC, WCA, WE, WEA, 　　
　DIN4776 輪廓、包絡殘餘線、粗糙度 motif、波形 motif
評估參數
　Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN), Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,
　Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), Sm, HSC, mr, dc, plateau ratio,
　mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la, lq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,
　A2
　粗糙度 motif 參數: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM
　波形 motif 參數: Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW
分析圖表
　ADC, BAC1, BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh 功率
譜圖、Walsh 自相關圖、 傾斜分佈圖、局部峰值分佈圖、
參數分佈圖
濾波類型 2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% (相位校正),
　2CR-50% (相位校正), 高斯-50%
截止波長*
　lc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
　fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
　fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm
取樣長度 (L)*
　0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm
取樣長度
　傾斜補償、R 平麵 (曲麵) 補償、橢圓補償、拋物線補償、
　雙曲線補償、二次曲線自動補償、 多項式補償、
　多項式自動補償
* 可在0.025mm 至最大移動長度間指定任意長度。

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