LiF:Mg .Cu.P探測器的使用方法及註意事項

一.GR-200A探測器

型號：GR-200A

類型：圓片(直徑4.5×0.8mm)

用途：個人，環境χ、γ劑量測量

使用方法：240℃±2℃　10分鐘退火。將探測器放到鋁盤內擺平,在退火爐溫度升到240℃±2℃時放入退火爐內, 等溫度再次回升到240℃±2℃時開始記時間, 10分鐘後取出迅速放在金屬板上降溫，(降溫速度越快越好,退火溫度不能超過240℃±2℃,否則會使靈敏度下降)。將冷卻後的探測器裝進TLD469-劑量盒備用.

測試：使用在相應的熱釋光劑量機機器（如RGD－3B系列），開機30分鐘後調準光源靈敏度，使用M2程序(即:升溫速率為15℃/S,第一恒溫135℃/8S, 第二恒溫240℃/12S)，空測3次以上後進行測量。

要求：探測器要求按批次使用，不同批次的分散性是不同的，不能混合使用。

說明：影響探測本底變化的主要因素是：探測器在大劑量下用過而退火不充分，留下瞭殘餘信號造成探測器高本底。探測器被污染則本底大。如用手摸過，探測器上沾瞭灰塵（落到桌上或長時間暴露於空氣當中）。或探測器直接在陽光、紫外燈下照過（GR200A探測器對室內散射光不敏感，但對直射陽光敏感）。探測器如被污染，可用酒精清洗，但洗後一定要退火，否則殘留在探測器上的溶質在測量加熱時會發光，導致極高本底。

均勻性：我單位生產的探測器，出廠要求探測器的分散性變異系數不超過5%。

重復性：一個探測器在相同劑量下反復退火、照射、測量值基本一致。

說明：導致測量結果不重復的原因有如下幾點：探測器未按規定條件退火、冷卻。探測器測量或退火受熱不充分，殘餘信號影響下一次測量值。探測器被污染或被陽光、紫外燈直接曝曬。測量條件發生瞭改變。輻射條件影響重復性。

長期穩定性：要求探測器具有長期的相對穩定性。

說明：影響探測器長期穩定性的因素有以下幾點：探測器性能變化。是指對探測器因退火不當或探測器被污染，探測器在線性上限以上使用過。同一型號探測器由於批次不同，劑量響應也不相同，如果混合使用。或是同一批次產品使用經歷和不同混合使用也會造成不同的劑量響應。應當對混合使用的探測器進行重新分檔。

存放：一般乾燥環境下的玻璃器皿避光下存放。　

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