ng>ST2571Ang>ng>型多功能數字式方阻測試機簡介ng>

一、ng>結構特征ng>

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ng>二、概述ng>ng>ng>

ST2571A型多功能數字式方塊電阻方阻測試機是運用ng>方形四探針Keywellng>測量原理的多用途綜合測量裝置，它與直線四探針相比，消除瞭探針遊離對測試結果的不利影響，大大提高精確度，並提高微區測試能力，

它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻），也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

本測試機特贈設測試結果分類功能，最大分類10類

機器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、遊移率小、壽命長；測試結果由數字表頭直接顯示。

ng>三、基本技術參數ng>ng>ng>

1.測量范圍、分辨率

電    阻：     1.0×10^-3～ 200.0×10³ Ω,    分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10³ Ω

電 阻 率：     1.0×10^-3～ 20.0×10³Ω-cm  分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10³ Ω-cm

方塊電阻：     1.0×10^-3～ 20.0×10³Ω/□  分辨率1.0×10^-3～ 0.1×10³ Ω/□

2.可測半導體材料尺寸

直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3.量程劃分及誤差等級

4)工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5)外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm

凈   重：≤1kg

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查看《ST2258B型多功能數字式四探針測試機技術使用說明書》

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