加工定制：否	類型：智能超聲檢測機	品牌：博智
型號：X-3600	測量范圍：各種貴金屬固體、粉末、液體	工作溫度：20-30攝氏度（℃）
分辨率：149eV	尺寸：600504360（mm）	重量：43公斤（kg）
適用范圍：各種貴金屬

1產品名稱及機型指標介紹:

ng>1.1.ng>ng>產品名稱及型號：ng>ng>ng>貴金屬檢測機X-3600型

ng>1.2.ng>ng>制造商：ng>天津市博智偉業科技有限公司

ng>1.3.ng>ng>X-3600ng>ng>貴金屬檢測系統包括：ng>X-3600貴金屬檢測機一臺，貴金屬分析軟件一套，密度分析軟件一套。

ng>1.4.ng>ng>機器簡介ng>：X-3600型貴金屬檢測機是一種體現X射線熒光分析技術最新進展的能量色散X射線熒光光譜機。它采用低功率小型X光管為激發源，電制冷矽半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證瞭整臺機器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。機器檢測能力強，分辨率高，適用於各行業對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。

ng>1.5.ng>ng>產品圖片ng>ng>ng>

ng>X-3600ng>ng>型ng>ng>ng>

ng>1.6.ng>ng>工作條件ng>ng>ng>

●工作溫度：15-30℃

●相對濕度：≤70%

●電源：AC: 220±5V

ng>1.7.ng>ng>技術性能及指標ng>:

1.7.1.ng>分析元素范圍：ng>從鋁（13號元素）到鈾（92號元素）

1.7.2.ng>元素分析含量范圍：ng>1ppm到99.99%

1.7.3.ng>測量時間ng>：30秒到180秒可調，一鍵式快速測量3.5秒可出結果

1.7.4.ng>元素同時分析能力：ng>26種元素

1.7.5.ng>測量樣品型態：ng>固體，粉末，液體

1.7.6.ng>測量精度：ng>以黃金樣品為例，高含量樣品（含量在75%以上）誤差±0.1%，低含量樣品（含量在75%以下）誤差±0.3%

1.7.7.ng>多次測量重復性：ng>可達0.1％

1.7.8.ng>測量次數ng>：任意可調，且在多次測量時可做平均值及標準偏差測量

1.7.9.ng>探測器：ng>美國AMPTEK原裝進口Si-Pin探測器，探測麵積6mm²分辨率149eV

1.7.10.ng>Xng>ng>光管：ng>W靶X光管，對金銀鉑鈀等貴金屬激發效率更高

1.7.11.ng>高壓電源：ng>美國Spellman原裝進口高壓電源，最大功率50W，50kV,1mA

1.7.12.ng>密度檢測系統：ng>密度檢測機及檢測軟件一套，可以對樣品的密度進行準確分析鑒定，從而實現對未知樣品內部材料的定性定量分析（ng>本系統具有唯一專利性ng>）

1.7.13.ng>鍍層檢測：ng>機器可對不同基體上的不同金屬鍍層進行多層檢測，並得出準確結果ng>（使用者可以根據需求進行二次開發）ng>

1.7.14.ng>樣品成像定位系統：ng>內置自感光500萬像素攝像頭及先進的定位軟件，方便樣品的局部定位測量

1.7.15.ng>定量分析方法：ng>基本參數法，理論Alpha系數法，經驗系數法，多元回歸法等（ng>國內同行業唯一采取此類綜合計算方法ng>）

1.7.16.ng>定性分析方法：ng>元素自動尋峰，Kl譜線標記法，峰譜比對法等

1.7.17.ng>操作軟件：ng>開放的可供客戶自行開發和升級的工作軟件，真正實現零費用升級，使一機多能。

1.7.18.ng>操作模式：ng>一鍵式操作全電腦控制與人工選擇測試方法兩種測試模式，滿足不同測試單位和測試人員的要求

1.7.19.ng>銀銅雙峰位校準：ng>銀，銅雙峰位同時校準，使機器校準更加精準，隨時修正工作曲線，使測量結果達到最高精度（ng>同行業中唯一采取此校準方法ng>）

1.7.20.ng>峰位自調系統：ng>當機器峰位有所偏移時，軟件可自動調試恢復機器到正常測量狀態（ng>同行業中唯一采取軟件峰位自調系統ng>）

1.7.21.ng>三重防輻射系統：ng>更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；機器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢（ng>同行業中唯一采取三重防輻射系統）ng>

1.7.22.ng>溫度控制系統：ng>內部風冷水冷雙循環冷卻，最大限度降低X光管工作溫度延長光管使用壽命，且保證機器長時間工作穩定，測量精度準確

1.7.23.ng>硬件結構：ng>機器雙箱體結構，有效屏蔽乾擾，增加機器整體穩定性

1.7.24.ng>超大樣品倉：ng>方便大型樣品的檢測

1.7.25.ng>測試報告：ng>測試報告根據客戶要求獨立設計

1.7.26.ng>長期工作穩定性ng>：為0.1％；

1.7.27.ng>溫度適應范圍ng>：為15℃至30℃

1.7.28.ng>ng>ng>工作電源：ng>交流220±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

2.機器硬件部分主要配置

ng>2.1 ng>ng>Si-PINng>ng>半導體ng>ng>探測器ng>ng>ng>

ng>技術指標及功能ng>ng>:ng>ng> ng>

2.1.1.ng>生產廠商：ng>美國Amptek公司

2.1.2ng>探測器類型：ng>電制冷Si-PIN

2.1.3ng>探測麵積：ng>6mm²

2.1.4ng>矽活化區厚度：ng>300um

2.1.5ng>探測器分辨率：ng>對於⁵⁵Fe，@5.9keV 對於12us的形成時間，半高寬為149eV

2.1.6ng>探測器窗口：ng>鈹窗，25um厚

ng>2.2 Xng>ng>光管ng>ng>ng>

ng>技術指標及功能ng>ng>:ng>

2.2.1.低功率X射線管（W靶）

2.2.2.使用壽命7000-10000小時

2.2.3.產生X射線激發源

ng>2.3ng>ng>高壓電源ng>ng>ng>

ng>技術指標及功能ng>ng>:ng>

2.3.1.ng>生產廠商：ng>美國Spellman公司

2.3.2.ng>電壓和電流從零至滿量程連續可調：ng>最大50KV，1mA

2.3.3.ng>電壓調整率：ng>負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程0.01 %

2.3.4.ng>線性調整率：ng>對於規定的輸入電壓范圍，該數值為滿量程0.01%

2.3.5.ng>電流調整率：ng>負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%

線性調整率：對於規定的輸入電流范圍，該數值為滿量程0.01%

2.3.6.ng>穩定性：ng>經過半小時預熱後，每8小時變化不超0.05%

2.3.7.ng>溫度系數：ng>溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%

ng>2.4 MCAng>ng>多道分析器ng>ng>:ng>

對采集來的信號進行數據處理,並將處理結果傳輸給計算機

ng>2.5 ng>ng>高精密攝像頭ng>ng>（CCD）ng>ng> ng>ng>ng>

試樣觀察並儲存樣本圖像ng>ng>

ng>2.6 ng>ng>超大樣品腔ng>ng> ng>

樣品腔尺寸（220mm×200mm×150mm）

3.整機硬件技術規格：

ng>3.1ng>ng>外型尺寸ng>ng>：ng>600mm×530mm×330mm

ng>3.2ng>ng>可測試樣品大小：ng>關倉測量：220mm×200mm×150mm，開倉測量：無限大

ng>3.3ng>ng>機器重量ng>ng>：ng>50公斤

ng>3.4ng>ng>工作環境溫度ng>：0——30℃

ng>3.5ng>ng>工作環境相對濕度ng>ng>：ng>≤70%

ng>3.6ng>ng>元素分析范圍ng>ng>：ng>鋁（Al）——鈾（U）

ng>3.7ng>ng>含量分析范圍ng>ng>：ng>1PPM——99.99%

ng>3.8ng>ng>測量時間ng>ng>:ng>60秒到180秒可調，一鍵式快速測量3.5秒可出結果。

ng>3.9ng>ng>激發源ng>ng>：ng>低功率X射線管（W靶）

ng>3.10ng>ng>高壓電源ng>ng>：ng>美國Spellman原裝進口高壓電源

ng>3.11ng>ng>探測器ng>ng>：ng>美國Amptek原裝進口電制冷Si-Pin半導體探測器

ng>3.12ng>ng>機器分辨率ng>ng>：ng>錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少為180±10eV（完全符合中華人民共和國國傢質量監督檢驗檢疫總局、中國國傢標準化管理委員會2008年12月31日發佈2009年7月1日實施GB/T 18043--2008最新標準對X射線熒光光譜分析機：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少為200eV標準要求）。

ng>3.13ng>ng>多道分析器ng>ng>：ng>2048道

ng>3.14ng>ng>工作電源ng>ng>：ng>交流 220V 50Hz