| 加工定制：否 | 品牌：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機 | 型號：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機 |
| 類型：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機 | 測量范圍：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機（um） | 測量準確度：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機（%） |
| 測量重復性：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機（%） | 測量時間：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機（s） | LS-C(IIA)型乾法：LS-C(IIA)型乾法激光粒度機 |
LS-C(IIA)型乾法激光粒度機采用乾法，即壓縮空氣分散被測粉體，專門為不宜在液體中分散的固體粉末的粒度測量而設計。
用途：
適合各類在液體介質中會使其化學、物理性質發生改變的粉體樣品。
工作原理：
利用顆粒對光的散射現象，根據散射光能的分佈推算被測顆粒的粒度分佈。。歐美克通過對光學、機械、電子、計算機等系統的整合和優化實現瞭顆粒測量的重復性好，動態范圍大，操作簡單方便。
輸出項目：
粒度分佈表、粒度分佈曲線、中位徑、特征粒徑、寬度系數、比表麵積、行業用分段顆粒百分比含量、>80μm百分含量（細度）、其他粒度綜合參數等
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