| 加工定制：否 | 品牌：spectrox | 型號：SPECTROX2000B |
| 測量范圍：1－30KeV | 測量對象：Mg、Al、SI、S、P、Mm等元素 | 測量精度：詳細資料來電索取 |
| 尺寸：以實物為準（mm） | 重量：160（kg） | 適用范圍：可對各類材料成分除碳元素（C）外的其它元素進行定性及及定量分析，包括對其它同類機器難以分析的Mg、A |
本產品在全國二十多個省、市已推廣瞭近千傢用戶（如攀鋼、本鋼、重鋼、首鋼、鞍鋼等多傢大型鋼鐵企業，中國測試技術研究院、武漢計量研究所、廣州質檢所、深圳質檢所、哈爾濱質檢所、山西省地礦部中心實驗室等近百傢計量、質檢部門，以及四百多傢全國各地的水泥廠），並出口到馬來西亞、朝鮮、韓國、香港、非洲等國傢和地區，涉及冶金、建材、質檢、科研等部門，在廣大用戶中樹立瞭良好的信譽。本公司的產品已成為廣大用戶的首選。
放射性同位素源或X射線發生器（X射線管）放出的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子，當外層電子補充內層電子時，會放出該原子所固有能量的X射線，稱之為特征X射線。各種元素的原子受激發後，在退激過程中放出的特征X射線能量各不相同，例如鐵的特征X射線（FeKα）能量為6.4KeV,銅的特征X射線(CuKα)能量為8.0KeV等等,依次可進行定性分析。在一定條件下，特征X射線的強度與元素含量（品位）成正比，從而可以通過對特征X射線強度的測量，建立與元素含量（品位）的關系式，由此測量未知元素的特征X射線的強度，可得出該元素的含量（品位）。
X熒光分析機是采用X射線照射試樣，對不同元素產生的特征X熒光進行解析，用以分析試樣元素和含量的裝置。X熒光光譜分析是物理分析方法，具有分析速度快、精度高、使用方便、成本低等特點，在冶金、地質、礦產、建材等行業得到廣泛的應用。
項目 | 人工化學分析 | SF系列X熒光分析 |
分析速度 | 從稱量到分析，每個元素要15-30分鐘，多元素分析時間更長。 | 一次性可以分析幾十種元素，分析時間2分鐘，一個樣品中所有待測元素含量都可以分析出來。 |
分析效果 | 測試結果因人而異，人受環境影響因素多，重復性不高。 | 無人為因素影響，按程序操作，由機器完成分析過程，測試精度高，重復性能好。 |
對生產的指導效果 | 時效性不強，嚴重滯後生產，隻起到反饋作用，易產生次品和不合格品。 | 可以及時指導生產，瞬時分析，減少瞭不合格品的產生，提高產品的質量，保證瞭生產質量的穩定。 |
勞動強度 | 手工分析工序多，勞動強度大，化驗工非常辛苦。 | 分析任務主要由機器完成，24小時不間斷工作，一個班一個人就可以輕松完成。 |
分析測試成本 | 需要消耗大量的藥品，處理過程復雜，廢氣費水等排放產生環境污染。 | 物理無損分析，不需要添加任何藥品試劑，隻需要電，功率小於300W，一臺機器可以使用15年，分析成本低。綠色環保。 |
人員要求 | 需要掌握專業的分析技術，對分析人員素質要求高。不同分析崗位，需要不同人員，人力成本高。 | 對人員素質要求低，普通的工人經過簡單的培訓即可上崗。全部分析都可一個人完成。 |
SF-3000SM能量色散X熒光分析機，是2003年推出的達到世界先進水平、國內領先水平的全元素分析機器，當年被科技部、質監總局、稅務總局等五部位聯合批準為“國傢重點新產品”，同時被國傢列入十五、十一五重點推廣的科技項目。該機器利用低能X光管進行激發，采用瞭國外最先進的半導體電制冷探測器進行探測，2048道多道脈沖分析器對射線光譜進行精細分析，一次性可以完成20多種元素的快速、準確分析。
1、鋼鐵行業：對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石除碳（C）以外的各種元素成份分析。
2、耐火材料及水泥行業的分析：各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。
3、有色行業：對鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份分析。
4、質檢部門： ROSH指令中的Pb，Cd ，Cr，Hg，Br及氯素各種等成份分析。
5、鍍層測厚：可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準確無損測量。
采用X光管激發樣品，一次激發全部待測元素，韌致輻射型，Be(鈹)窗厚200μm，靶材Rh(銠靶)，功耗低、壽命長，對輕重元素均有較高的激發效率。
采用進口的電致冷Si-PIN半導體探測器，分辨率高，無需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成對多種元素的探測。
高壓電源：電壓 0V-50kV連續可調；電流O-lmA連續可調。數位顯示，精度高，無故障操作。
主機采用數字化麵板設計，管流、管壓、樣品位置、真空度等參數麵板直接顯示，可以根據分析元素種類不同軟件自動調整參數。
多功能樣品室
樣品種類：固體、粉末、液體均可，如壓片無需添加任何試劑。
腔內多樣品座：自動控制，精確定位。
腔內環境：空氣或真空。
真空環境測量，提高瞭輕元素的激發效率和測量范圍。
2048道多道譜機實時測量顯示，對樣品X光譜進行精細分析，系統可自動識別譜線，方便瞭解樣品的組成。
可一次性實現20多種元素的快速、無損、準確分析。
自動穩譜，消除譜峰漂移影響，確保機器長期穩定。
專業的分析軟件，可以實現模式識別，自動分類，開放式軟件系統，用戶可以根據自身需要建立庫文件，進行2次開發應用。
全中文Windows應用軟件，操作簡單。
分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等
分析范圍：1ppm-99.9%.
同時分析：20多種元素同時分析
能量范圍：1-30keV.
測量時間：1-2分鐘可以完成全部待測元素的含量分析
探測器的分辨率：150ev
管電壓：0-50Kv 管電流：最大1～1000 μA
機器的分析精度：標準偏差≤0.08%
分析誤差：優於國傢標準要求
重復性：<0.1%.
穩定性：<0.01%.
輻射劑量：<25μsv/h.
工作環境：溫度10～35 ℃ 濕度30～70%RH
電源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz
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