XR-306能量色散X射線熒光分析機
 分析原理：能量色散X射線熒光分析法
 分析元素：Na ～U任意元素
 檢出下限(Cd/Pd)： Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm
 樣品形狀： 任意大小，任意不規則形狀
 樣品類型： 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
 X射線管靶材：Mo
 管電壓：5～50 kV
 管電流： 最大1～1000 μA
 照射直徑： 2、5、8mm自動轉換
 探測器：Si(PIN)半導體致冷高分辨率探測器
 濾光片：八種新型復合濾光片自動選擇
 樣品定位： 微動載物平臺（選配）
 樣品觀察：30倍彩色CCD攝像機
 微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配）
 定量分析軟件：理論α系數法定量軟件
測試時間：60—200秒
數據處理：IBM PC/AT,256MB DDR,40GB,WIN XP
工作環境:溫度10～35 ℃;30～70%R H
 電源: AC 220 V±10 %、50/60 Hz,1.1kW
 外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm  40Kg

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