| 加工定制：否 | 品牌：SPECTRO/斯派克 | 型號：XEPOS |
| 測量范圍：元素周期表中Na – U的所有元素 | 測量對象：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測 | 測量精度：＞160eV |
| 尺寸：400650x750（mm） | 重量：80（kg） | 適用范圍：礦物分析、爐渣分析、陶瓷分析、粉煤灰分析、水泥分析 |
| 屬性：1 |
德國斯派克分析機器公司開發出瞭一種極其成功的技術，把偏振X射線應用於熒光分析。正如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種先進的分析技術已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析機器公司不斷發展這一技術，並推出瞭新一代的機器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜機。
SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件，可獲得極佳的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保最佳激發，12位樣品自動交換器，預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析機。
SPECTRO XEPOS配有預先安裝好的應用包，包括：在工廠預先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。
XEPOS型X射線熒光光譜機可廣泛應用於各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，可應對歐洲WEEE、RoHS指令。
由X射線管產生的X射線，通過偏振靶產生一束偏振單色聚焦的射線。該射線全部可到達樣品，使樣品中的各種元素產生特定的二次X光，稱為X射線熒光，由SDD計數器將其全部記錄下來，特定的能量即代表此元素在樣品中存在與否，其強度即代表含量的高低。通過此方式該機器可對Na－U間的元素進行分析測試。
1.采用世界上最新的、最先進的偏振X射線熒光激發技術,區別於其他X射線熒光機,機器的背景最低,信噪比最佳,檢出限最低. X光管功率達50W,最大電壓50KV,最大電流2mA。
2采用偏振靶轉換技術,形成一束單色偏振的X光,保證對元素周期表中Na
– U的所有元素均有最佳的激發效果。其中機器所采用的晶體靶,由於X射線衍射的原因,其激發強度不僅不會下降,反而會產生單色平行X光束,大大提高激發元素的效率。
3由於偏振X射線本身所具有的偏振性及單色性,因此機器無需選擇濾光片。避免瞭煩雜的濾光片的選擇,簡化分析操作,減少瞭X光的損失,節約瞭分析時間。可實現真正意義上的Na-U的全分析。
4 Spectro Xepos型機器配有無需液態氮冷卻的Si計數器,計數率高達100,000pcs,可有效防止計數溢出。分辨率好於160eV，峰背比5000：1,有效麵積7平方毫米。
5機器采用的方式於世界上最強的X射線發生源－同步加速器所采用的光源機制相似，X光極為純凈，減少瞭雜散光對分析結果的影響。
6機器可選擇配置FP快速定性,半定量(定量)程序。可對任何完全未知的樣品進行分析。與其他X熒光機器相比，FP更為接近(符合)實際，在此程序中采用瞭數十種國際標準樣品，實測結果並予以固化。
7機器在Windows操作系統上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。采用人機功效學原理，譜圖匯編，自動識別。定性、定量功能強大。機器采用分級密碼，重要的數據得到保護。
8機器具有多種校正模式(數學模型)(方法)，在定量分析中可充分應用，已取得最佳的分析結果。方法包括:基本參數法、盧卡斯法、α經驗系數法、質量吸收系數法、平均原子量法等等。
高度: 400 mm
寬度: 650 mm
長度: 750 mm
重量: 80 kg
操作手冊
技術手冊
外設的技術資料
輸入電壓: 120/230 V AC, 50/60 Hz
不間斷電源
4.3.2環境要求
20-25°C室溫要求
<80%相對濕度
無有害性氣體及灰塵
4.3.3電源要求
AC 220 V
±10％
4.3.4地線要求
小於4歐姆
4.3.5標樣要求
可幫助用戶建立標準曲線，用戶提供3－5個樣品
礦物分析，典型用戶：中國地質科學研究院
爐渣分析，典型用戶：首都鋼鐵公司、濟南鋼鐵公司
陶瓷分析，典型用戶：法國聖戈班陶瓷（廣漢）公司、澳華瓷業公司
粉煤灰分析，典型用戶：華北電力研究院，浙江電力研究所
水泥分析，典型用戶：深圳大學
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