ng style="line-height: 1.5;">ST2253ng>ng style="line-height: 1.5;">型數字式四探針測試機簡介ng>

ng>一、結構特征ng>

ng>二、概述ng>

ST2253型數字式四探針測試機是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量機器。該機器設計符合GB/T 1551-2009 《矽單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《矽、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》並參考美國 A.S.T.M 標準。

機器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。

主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。機器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數位開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；機器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針機器麵板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數位管直接顯示，也可連機由軟件界麵同步顯示、分析、保存和打印！

探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試矽類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬塗層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米塗層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上塗層電阻率方阻。

測試臺選配：一般ng>四探針法測試ng>電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。ng>二探針法測試ng>電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以ng>測試半導體粉末ng>電阻率，選配SZT-G型測試臺ng>測試橡塑材料ng>電阻率。ng>詳見《ng>ng>四探針機器、探頭和測試臺的特點與選型參考ng>ng>》ng>

機器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

機器適用於半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

ng>三、基本技術參數ng>

3.1  測量范圍

電  阻：1×10^-4～2×10⁵Ω   ，分辨率：1×10^-5～1×10²Ω

電阻率：1×10^-4～2×10⁵Ω-cm，分辨率：1×10^-5～1×10²Ω-cm

方  阻：5×10^-4～1×10⁶Ω/□，分辨率：5×10^-5～1×10²Ω/□

3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)

直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，ng>手持方式不限ng>

SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，ng>手持方式不限.ng>

長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,   ng>手持方式不限.ng>

測量方位: 軸向、徑向均可

3.3 量程劃分及誤差等級

3.4 四探針探頭（選配其一或加配全部）

(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調

(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調

3.5. 電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W

3.6.外形尺寸：

主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）

凈   重：≤2.5kg

四、ng>詳情請登陸ng>ng>蘇州晶格電子有限公司ng>官方網站http://www.jgdz.com.cn或

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