技 術 參 數  

1、 機器尺寸：686(W)x464(D)x390 (H)mm        

2、 樣品腔尺寸：

小樣品腔：300*300*100mm；

             大樣品腔：無限制，小於30公斤

3、 重量：約50Kg

4、 工作環境溫度：溫度15—30℃

5、 工作環境相對濕度：≤85%（不結露）

6、 可分析元素范圍 ：K-U

7、 最低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm 

8、 測量時間 ：300-500s (系統自動調整)

9、 最佳分辨率：149±5eV

10、 輸入電源：AC 220V±10%，50Hz

11、 額定功率 ：1500W

3.1探測系統

1、探測器 

類型：電制冷Si-PIN探測器

(采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器)

型號：X-123

制造商：美國Amptek公司生產

Be窗厚度：1mil(0.0254mm)

最佳分辨率：149±5eV

系統峰背比：≥5000/1

能量響應范圍：1keV~40keV

推薦計數率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us）

2、信號處理系統DP4（與探測器高度集成）

放大器增益自動調整；

脈沖成型時間自動調整；

MCA通道數最高可達8K；

每一通道總計數可達24位（16.7M）

3.2 X光管

圖  片

電   壓: 0~50 kV

最大電流: 1.0 mA

最大功率: 50 W

燈絲電壓: 2.0V @ 50 kV/1mA

燈絲電流: 1.7 A

射線取出角：12°

靶   材：Mo

Be窗厚度：0.5mm