SP系列二維光學測量機以先進的精密光柵測量系統結合計算機輔助誤差修正軟件確保瞭測量的高精度。先進的圖象處理及多樣化的自動尋邊采點功能取代瞭目視瞄 準手工記數的傳統測量方式，極大的提高瞭工作效率並從根本上消除瞭人為誤差。7種不同的瞄準方式給用戶提供瞭更多的選擇。編程及自學習編程功能令同一工件 （或同類工件）的批量（或重復）測量更為輕松。
以先進的精密光柵測量系統結合計算機輔助誤差修正軟件確保瞭測量的高精度。先進的圖象處理及多樣化的自動尋邊采點功能取代瞭目視瞄 準手工記數的傳統測量方式，極大的提高瞭工作效率並從根本上消除瞭人為誤差。7種不同的瞄準方式給用戶提供瞭更多的選擇。
型號 | 測量范圍(mm) | 示值誤差(μm) |
SP3020 | 300×200×150 | 3.0+L/200 |
SPH2010 | 200×100×100 | 1.5+L/350 |
SPH2010C | 200×100×100 | 1.0+L/100 |
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