JSM-6510掃描電子顯微鏡
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型掃描電子顯微鏡,與日本電子公司的元素分析機(EDS),統合於一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制,操作員隻用一隻鼠標,就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
直觀的操作界面的設計,簡明易懂便於迅速掌握操作。 單個用戶可以根據常用功能設置相應的圖標,營造快捷的操作環境。用戶登錄時,即可加載已註冊過的設定。 畫面上並列顯示二次電子成像和背散射電子成像這兩種實時圖像。可同時觀察樣品的形貌和組成分佈。 適合於多種測量功能。可在觀察圖像上直接進行測量。也可將測量結果貼至SEM圖像,保存在文件中。 3D Sight(選配件),能夠進行平面測量和高度測量,實現立體俯視圖。 分析型掃描電子顯微鏡配備兩臺監視器,一臺用於SEM圖像觀察和另一臺用於元素分析(EDS)。一隻通用鼠標即可同時控制兩臺監視器。大尺寸畫面使操作更加簡便與舒適。 工廠預置中心燈絲,十分便於更換。因此,可長期保持穩定的高性能。此外,操作界面還能以映像形式顯示燈絲維護的步驟說明。 真空系統使用高性能的擴散泵保證瞭潔凈的高真空狀態。擴散泵內部無活動部件,體現瞭操作穩定,維護簡便的特色。保證分辨率 3.0nm(30kV)
8.0nm(3kV)
15nm(1kV)放大倍數 5至300,000x 加速電壓 0.5kV至30kV 電子槍 工廠預對中燈絲 聚光鏡 變焦聚光鏡 物鏡 錐形物鏡 樣品臺 全對中樣品臺 X-Y 80mm-40mm Z 5mm至48mm 旋轉 360° 傾斜 -10°至+90° 排氣系統(高真空模式) DPx1,RPx1 排氣系統(低真空模式) DPx1,RPx2
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