-  折光指數范圍:1.30 - 1.72 nD
-  精確度:1 x 10-6 nD
-  準確度:4 x 10-5 nD
-  波長:運用幹涉濾片精確的調整為 589.3 nm±0.1 nm(鈉D)
-  內置Peltier 半導體恒溫控制器，標準控溫范圍10-70℃，可選控溫范圍10-110℃，精度0.01 °C，控溫準確度(±0.03 °C), 溫度穩定性0.002℃。
-  LED光源，平均壽命≥100000小時。
-  獨特的全光反射測量原理，不受樣品顏色和濁度的幹擾，準確穩定測定深色樣品折光率。
-  使用雙快速帕爾帖（Peltier）半導體控溫技術的折光儀。其中一個帕爾帖（Peltier）恒溫控制樣品的溫度，另一個帕爾帖（Peltier）恒溫控制光電測量系統溫度恒定，使其不受測量與周圍環境溫度的影響。
-  棱鏡材質：YAG （用於激光發生器的釔鋁石榴石），接近鑽石硬度。
-  根據不同應用，配置大量樣品的流動進樣裝置（懸浮液樣品專用組件）及固體樣品專用組件.
-  防水型不銹鋼外殼，耐大多數化學品腐蝕。
-  多種操作模式：PC 電腦操作或與Anton Paar 數字式密度儀聯用操作均可。
-  強大的延伸測量，如Brix，Glucose， Fructose，Invert Sugar，Salinity等21種測量方法。
-  免維護