EVO系列鎢燈絲掃描電子顯微鏡 EVO MA 25/LS 25

掃描電鏡(SEM)廣泛地應用於金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分佈測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

分辨率：2.0nm@30KV(SE with Lab6 option)  3.0nm@30KV(SE and W) 4.5nm@30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數：5—1000000x
視野范圍：6mm
X-射線參數：8.5mm WD，35度接收角
壓力范圍：10—400Pa (LS25-3000Pa)
工作室：420mm(φ)×330mm(h)
5軸試樣載物臺：X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=0-90°R=360°
最大試樣高度：210mm，試樣最大直徑：300mm
系統控制：基於Windows XP 的SmartSEM

最大的樣品高度可達210mm 
最大樣品重量5Kg 
最大的樣品直徑300mm 
能在可變壓力下操作
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇

在z軸上可機動化的移動50mm並且在X和Y軸上可移動130mm
通用圖像處理
用X射線分析改進瞭LaB6成像質量
支持兩個空間的范圍
 

新手教學

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