該設備測試下線可以達到40納米，主向光電接收器共71個，最大探測角達21.5º；非均勻交叉排列的側向及後向光電接收器,共9個，最大角度135º。優化的反傅立葉光學變換設計，結合獨特的光路一體化結構，使光路更加穩定，長期使用，無須調整；先進的機械設計與加工工藝，使儀器的結構更緊湊合理，流線型的設計，美觀大方，使用與維護更為方便；有效的屏蔽與抗幹擾技術，使儀器的電氣等性能更加穩定，結果更準確

可用於測試各類固體粉末或乳液中顆粒的粒度分佈
各種金屬粉末：如鋁粉、鋯粉、鎳粉、鎢粉、錫粉、鋅粉、鉬粉、鎂粉、銅粉以及其它稀有金屬粉、合金粉或金屬氧化物粉末（磁性粉末除外）等。
各種非金屬粉末：如滑石粉、高嶺土、碳酸鈣、煤粉、熒光粉、水鎂石、方解石、矽灰石、電氣石、金剛石、重晶石、螢石、沸石、碳化硼、黏土、石墨、石英、石膏、膨潤土、矽藻土、矽酸鋯、剛玉、雲母、粘土、鈦白粉等。
各種其它粉末的科研、加工與應用領域：如土壤、染料、硫磺、炸藥、西藥、中藥、農藥、磨料、塗料、食品添加劑、催化劑、水泥、河流泥沙、油滴、氣泡、乳濁液等與顆粒相關的固體或液體顆粒等

測試范圍：0.04mm～500mm
光源：半導體激光雷射器（波長635nm、功率3mw、累積使用壽命25000小時以上）
測試方式：濕法測試，外置循環進樣系統和微量樣品池(20ml）
獨立光電檢測單元數：80
樣品濃度：0.5‰～1%（與樣品有比重、顆粒大小、折射率有關）
測試時間：少於1分鐘/次，不含樣品分散時間
掃描速度：2000次/秒
重復性誤差：優於1%
電源：交流220V±10% 50Hz或60Hz，功率：90W
環境要求：溫度：5℃～35℃；濕度：<85%
微機接口：需計算機配合使用,標準 RS-232串行接口
操作系統：可在Windows95及以上版本的操作系統下運行