用 途
•在光學冷加工中用於檢驗球面和非球面的質量
•測定光學零件或光學系統的像差，如球差、像散等
•測定凹球面的曲率半徑
•檢驗光學材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
•光學系統的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術 指 標
•相對孔徑：D/F=1：2
•小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
•狹 縫 寬：0.05，0.15mm
•儀器重量：2KG
•粗調升降：70mm
•微調升降：15mm
•移 動 量：縱向橫向各15mm
•讀 書 值：0.01mm
•在光學冷加工中用於檢驗球面和非球面的質量
•測定光學零件或光學系統的像差，如球差、像散等
•測定凹球面的曲率半徑
•檢驗光學材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
•光學系統的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技 術 指 標
•相對孔徑：D/F=1：2
•小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
•狹 縫 寬：0.05，0.15mm
•儀器重量：2KG
•粗調升降：70mm
•微調升降：15mm
•移 動 量：縱向橫向各15mm
•讀 書 值：0.01mm
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